[发明专利]一种混合集成运算放大器失调性能修调方法及其修调结构

权利要求书

1.一种混合集成运算放大器失调性能修调方法，其特征在于：所述混合集成运算放大器包括一级或一级以上运算放大器，所述运算放大器包括两个失调电压修调端；在第一级运算放大器的两个失调电压修调端分别接入修调电阻网络；根据混合集成运算放大器的电路结构，推导出输出失调电压表达式，在输出失调电压表达式中，设输出失调电压等于零，除用于调节输出失调电压的修调电阻以外，其余电参数均可知定值，由此计算出修调电阻阻值；将运算放大器采用半导体芯片技术进行集成，再与修调电阻网络进行混合集成；然后采用激光修调方式对修调电阻网络进行修调，实现设定精度的修调电阻阻值，从而实现混合集成运算放大器失调性能的修调。

2.如权利要求1所述的一种混合集成运算放大器失调性能修调方法的修调结构，其特征在于：

包括运算放大器U1、U2、...、Un，电阻R1、R2、...、R3n，所述每个运算放大器具有两个修调端子T11、T12、...、Tn1、Tn2，其中n为大于等于1的自然数；

所述电阻R1一端与输入端Vin连接，另一端与运算放大器U1的负相输入端IN-连接，同时与电阻R2一端连接，电阻R2另一端与运算放大器U1输出端Vout1连接，同时与电阻R4一端连接，电阻R4另一端与运算放大器U2的负相输入端IN-连接，同时与电阻R5一端连接，电阻R5另一端与运算放大器U2输出端Vout2连接。以此类推，电阻R3n-2一端与前级运算放大器输出端连接，另一端与运算放大器Un的负相输入端IN-连接，同时与电阻R3n-1一端连接，电阻R3n-1另一端与运算放大器Un输出端Voutn连接，最后由Voutn输出；

所述运算放大器为差分输入放大器，其修调端子Tn1与芯片内部电阻R1A的一端连接，同时与电阻R2A的一端连接；电阻R2A另一端与电源VCC连接，电阻R1A另一端与运算放大器差分输入级输出端VoA连接；修调端子Tn2与芯片内部电阻R1B的一端连接，同时与电阻R2B的一端连接；电阻R2B另一端与电源VCC连接，电阻R1B另一端与运算放大器差分输入级输出端VoB连接。其中，R1A、R2A、R1B、R2B为运算放大器内部电阻；

修调端子Tn1一端与R1A的一端连接，同时与R2A的一端连接，Tn1另一端与外部修调电阻R1c的一端连接，外部修调电阻R1c另一端与电源VCC连接；修调端子Tn2一端与R1B的一端连接，同时与电阻R2B的一端连接，Tn2另一端与外部修调电阻R2c的一端连接，外部修调电阻R2c另一端与电源VCC连接。

3.如权利要求2所述的一种混合集成运算放大器失调性能修调方法的修调结构，其特征在于：所述电阻R1、R2、...、R3n为金属膜电阻，所述修调电阻R1c和R2c为金属膜电阻阵列芯片；所述运算放大器U1、U2、...、Un，电阻R1、R2、...、R3n，以及修调电阻R1c和R2c通过混合集成方式集成在一个封装体内。

4.如权利要求2所述的一种混合集成运算放大器失调性能修调方法的修调结构，其特征在于：所述外部修调电阻R2c为固定电阻，外部修调电阻R1c为可修调电阻，经过所述运算放大器输出失调电压表达式，计算出输出失调电压等于零的外部修调电阻R1c阻值，然后采用激光修调方式对外部修调电阻R1c修调，实现设定精度的外部修调电阻R1c阻值，从而实现所述运算放大器失调性能的修调。

5.如权利要求2所述的一种混合集成运算放大器失调性能修调方法的修调结构，其特征在于：所述n等于2。

6.如权利要求5所述的一种混合集成运算放大器失调性能修调方法的修调结构，其特征在于：所述外部修调电阻R1c的阻值计算表达式为：

Vout2＝It*(R2B//R2c-R2A//R1c)*As+Vav；

所述It、R2B、R2A以及R2c的值为固定值，根据具体电路及参数要求进行设定；所述Vav为放大器电路修正值，通过产品封盖前上电测试计算获得，所述As为电路放大倍数，所述R1c可修调电阻。