[发明专利]基于互联网的永磁体检测信息处理系统及方法

说明书

本发明公开了基于互联网的永磁体检测信息处理系统及方法，温度与检测信息偏差量分析模块，所述温度与检测信息偏差量分析模块用于分析产品检测设备中永磁体的温度产生变化时，相应的永磁体的磁通密度的变化量，并结合产品检测设备中磁通密度变化量与产品检测信息偏差量之间的关系，得到温度与产品检测信息偏差量之间的关系。本发明能够有效预测出产品检测设备相应时间对应的温度变化量，结合产品检测设备中温度与产品检测信息偏差量之间的关系，进而能够精准预测出产品检测设备在相应时间对应产品检测信息偏差量，实现对产品检测信息的校准，确保产品检测结果的准确性。

技术领域

本发明涉及工业检测技术领域，具体为基于互联网的永磁体检测信息处理系统及方法。

背景技术

随着永磁体技术的发展，人们对永磁体的运用越来越广泛，在工业领域中，人们将永磁体制作成电机或者产品检测设备，前者提高了生产的效率，后者能够有效实现对产品质量的快速检测，实现对产品的品质把控。

当前基于互联网的永磁体检测信息处理系统中，只是单纯的运用包含永磁体的检测设备对生产过程中的产品进行检测，分析产品的检测信息，进而判断出产品是否合格，但是现有技术中没有考虑到产品检测设备中永磁体温度变化对产品检测结果的影响，因此，现有的基于互联网的永磁体检测信息处理系统存在较大的缺陷。

发明内容

本发明的目的在于提供基于互联网的永磁体检测信息处理系统及方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：基于互联网的永磁体检测信息处理系统，包括：

设备管理模块，所述设备管理模块用于对包含永磁体的产品检测设备进行管理，并对各个产品检测设备进行编号；

温度变化因素分析模块，所述温度变化因素分析模块分析产品检测设备的开启时长、检测一个产品持续的时长及检测产品的频率这三个方面分别对产品检测设备中永磁体的温度的影响，分别得到第一温度影响函数、第二温度影响函数及第三温度影响函数，

并将编号为i的产品检测设备对应的第一温度影响函数记为F1i(t)，

将编号为i的产品检测设备对应的第二温度影响函数记为F2i(t1)，

将编号为i的产品检测设备对应的第三温度影响函数记为F3i(t)，

所述t为编号为i的产品检测设备开启的时长，所述t1表示编号为i的产品检测设备检测一个产品时持续的时长；

温度与检测信息偏差量分析模块，所述温度与检测信息偏差量分析模块用于分析产品检测设备中永磁体的温度产生变化时，相应的永磁体的磁通密度的变化量，并结合产品检测设备中磁通密度变化量与产品检测信息偏差量之间的关系，得到温度与产品检测信息偏差量之间的关系；

检测信息偏差量预测模块，所述检测信息偏差量预测模块根据温度变化因素分析模块及温度与检测信息偏差量分析模块中的分析结果，实时对产品检测设备相应的检测信息偏差量进行预测；

检测信息校准模块，所述检测信息校准模块根据检测信息偏差量预测模块中预测的检测信息偏差量，对产品检测设备对产品的检测信息进行校准，并根据校准后的产品检测信息判断产品的质量是否合格。

进一步的，所述温度变化因素分析模块包括开启时长温度影响模块、检测时长温度影响模块及检测频率温度影响模块，

所述开启时长温度影响模块用于获取产品检测设备在未检测产品的状态下不同开启时长下，永磁体温度的变化函数，记为第一温度影响函数；

所述检测时长温度影响模块用于获取产品检测设备检测一件产品时，从产品检测的起始时间点至终止时间点对应的检测时间区间内，不同检测时长对应的产品检测设备中永磁体温度变化函数，记为第二温度影响函数；