[发明专利]一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法及系统

权利要求书

1.一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法，其特征在于，包括：

获取第一目标物体在第一平台上的图像作为第一目标图像；

根据所述第一目标图像计算所述第一目标物体相对于基准位置的偏移数据作为第一偏移数据；

根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位。

2.根据权利要求1所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法，其特征在于，根据所述第一目标图像计算所述第一目标物体相对于基准位置的第一偏移数据包括：

从所述第一目标图像中获取所述第一目标物体在第一平台上的第一预设定位位置；

根据所述第一预设定位位置确定第一搜索区域的初始值，并确定所述第一搜索区域；

在所述第一搜索区域内搜索第一特征图像，并根据第一基准模板图像计算所述第一特征图像的第一偏移数据。

3.根据权利要求2所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法，其特征在于，根据第一基准模板图像计算所述第一特征图像的第一偏移数据包括：

根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的水平差异计算水平偏移数据；根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的竖向差异计算竖向偏移数据；根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的角度差异计算角度偏移数据；

将所述水平偏移数据、所述竖向偏移数据和所述角度偏移数据作为所述第一偏移数据。

4.根据权利要求1所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法，其特征在于，根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位包括：

根据所述第一偏移数据调节所述第一平台的位置至所述第一目标物体匹配于所述基准位置；

控制机械手将所述第二目标物体根据对应所述基准位置的预设方位放置于所述第一目标物体上完成对位。

5.根据权利要求1所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法，其特征在于，所述第二目标物体放置于第二平台上；

根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位包括：

获取第二目标物体在第二平台上的图像作为第二目标图像；

根据所述第二目标图像计算所述第二目标物体相对于基准位置的偏移数据作为第二偏移数据；

根据所述第一偏移数据调节所述第一平台的位置至所述第一目标物体匹配于所述基准位置，并根据第二偏移数据调节所述第二平台的位置至所述第二目标物体匹配于所述基准位置；

根据对应所述基准位置的预设方位调整所述第一平台和所述第二平台的相对位置完成所述第一目标物体和所述第二目标物体的对位。

6.一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位系统，其特征在于，包括：

拍照模块，被配置为获取第一目标物体在第一平台上的图像作为第一目标图像；

对位计算模块，被配置为根据所述第一目标图像计算所述第一目标物体相对于基准位置的偏移数据作为第一偏移数据；

调节模块，被配置为根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位。

7.根据权利要求6所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位系统，其特征在于，所述对位计算模块还被配置为：

从所述第一目标图像中获取所述第一目标物体在第一平台上的第一预设定位位置；

根据所述第一预设定位位置确定第一搜索区域的初始值，并确定所述第一搜索区域；

在所述第一搜索区域内搜索第一特征图像，并根据第一基准模板图像计算所述第一特征图像的第一偏移数据。

8.根据权利要求7所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位系统，其特征在于，所述对位计算模块还被配置为：

根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的水平差异计算水平偏移数据；根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的竖向差异计算竖向偏移数据；根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的角度差异计算角度偏移数据；

将所述水平偏移数据、所述竖向偏移数据和所述角度偏移数据作为所述第一偏移数据。