[发明专利]一种AMOLED屏仿真效果的高精度显示方法及系统

说明书

本发明提出了一种AMOLED屏仿真效果的高精度显示方法及系统，主要包括：模块算法仿真，仿真区域选择，高精度数据截取，高精度仿真数据加载，查询表读取，高精度查询表转换，查询表加载。其中，高精度数据截取算法将仿真区域中的高精度仿真数据截取需要特别观察的局部数据映射得到低精度仿真数据，高精度查询表转换算法将第一类查询表计算得到第二类查询表，数据转换后的仿真数据配合第二类查询表可以实现高精度仿真效果。

技术领域

本发明提出了一种AMOLED屏仿真效果的高精度显示方法及系统，涉及AMOLED显示技术领域。

背景技术

在实际芯片显示系统中(图2)，实验模块需要接收低位宽输入数据并输出高精度仿真数据至电压转换模块，电压转换模块根据第一类查询表计算输出电压，此时，实际芯片显示系统中的仿真精度得以保留。

AMOLED显示屏驱动电路各模块的效果需要通过仿真效果显示系统来确认，通常来说，算法的有效性需要在电路开发前期进行验证，即在没有实际芯片电路的情况下，利用现有平台和架构，仿真新开发算法的效果。

在传统方式的仿真效果显示系统中(图3)，会先使用实验模块算法仿真得到高精度仿真数据，再将仿真数据传输给实际芯片显示，由于受实际芯片输入位宽限制，系统流程中存在部分精度损失，造成显示效果并不理想。

当模块对精度要求不高时，传统的仿真效果显示系统可满足要求。当模块精度要求较高时，传统的仿真效果显示系统无法满足要求。因此，传统的仿真效果显示系统无法真实、完整地还原新开发算法的能力。

为缩小仿真效果显示系统与实际芯片显示系统的显示精度差距，有必要提出一种高精度的仿真效果显示系统来解决此类精度损失造成的仿真效果失真的问题。

发明内容

技术问题：若AMOLED屏仿真效果的显示系统中，模块算法仿真后的精度能够维持，则显示效果比较理想。然而，AMOLED屏仿真效果会受到芯片输入数据位宽的影响，通常在仿真过程中会有损失。

本发明针对上述技术问题提供了一种AMOLED屏仿真效果的高精度显示方法，包括以下步骤：模块算法仿真、仿真区域选择、高精度数据截取、高精度仿真数据加载、查询表读取、高精度查询表转换、查询表加载。

进一步地，使用高精度模块算法仿真得到高精度仿真数据，假设所述高精度模块算法的输出为N(N＞8)比特，N为仿真精度，则所述高精度仿真数据的数据范围为0～2^N-1。

进一步地，分析所述高精度仿真数据的分布，得到仿真区域：

步骤1.若所述高精度仿真数据存在满足以下条件的X_min和X_max

则所述高精度仿真数据分布在X_min和X_max以内，其中，P表示概率，δ∈[0,1]，代表接近1的可设定概率阈值，则所述仿真区域即为所述高精度仿真数据的区域；

步骤2.若不存在满足上述条件的X_min和X_max，则需要将高精度仿真数据分成若干个符合条件的子区域，分别对若干个子区域查找合适的X_min和X_max并进行数据转换，单独观察各个子区域的仿真效果。

进一步地，截取高精度仿真数据并做数据映射得到新的高精度仿真数据X_8bit：

对所述高精度仿真数据做如下数据转换

其中，X_8bit为数据转换后的8比特仿真数据。

进一步地，将所述新的高精度仿真数据X_8bit加载至芯片显示。