[发明专利]用于监测松散材料的表面拓扑的物位测量装置在审
申请号: | 202210644820.9 | 申请日: | 2022-06-09 |
公开(公告)号: | CN115468627A | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 弗洛里安·博格特 | 申请(专利权)人: | VEGA格里沙贝两合公司 |
主分类号: | G01F23/284 | 分类号: | G01F23/284;G01F23/292;G01F23/296 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 姚鹏;陈桂香 |
地址: | 德国沃*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 监测 松散 材料 表面 拓扑 测量 装置 | ||
1.一种物位测量装置(100),其被配置为监测松散材料(111)或流体的表面拓扑,所述物位测量装置包括:
传感器单元(101),其被配置为扫描所述松散材料的表面的第一区域(103)和所述松散材料的所述表面的第二区域(104);
评估单元(102),其被配置为计算位于所述松散材料的所述表面的所述第一区域下方的所述松散材料的第一体积和/或第一质量和/或第一平均填充高度以及位于所述松散材料的所述表面的所述第二区域下方的所述松散材料的第二体积和/或第二质量和/或第二平均填充高度。
2.根据权利要求1所述的物位测量装置(100),
其中,所述传感器单元(101)被配置为利用第一分辨率扫描所述第一区域,并且利用低于所述第一分辨率的第二分辨率扫描所述第二区域。
3.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100),
其中,所述第一区域(103)具有与所述第二区域(104)不同的尺寸。
4.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100),
其中,所述第一区域(103)具有与所述第二区域(104)不同的形状。
5.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100),其还包括:
通信单元(105),其被配置为将所计算的所述体积或所述填充高度传输到外部控制和评估单元(106)。
6.根据权利要求5所述的物位测量装置(100),
其中,所述通信单元(105)被配置为在向所述外部控制和评估单元(106)传输数据期间仅传输所计算的所述体积或所述填充高度的子集。
7.根据权利要求5或6所述的物位测量装置(100),
其中,所述通信单元(105)被配置为仅在计算的体积或计算的填充高度与先前的计算相比发生改变时才将所述计算的体积或所述计算的填充高度传输到所述外部控制和评估单元(106)。
8.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100),所述物位测量装置被配置为连接到4-20mA双线制接口或用于无线电传输所计算的所述体积或所述填充高度。
9.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100),
其中,所述第一区域(103)的位置在存储有所述松散材料的容器的出口(107)的上方或入口(108)的下方。
10.一种用于根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100)的外部控制和评估单元(106),其被配置为可视化由所述物位测量装置传输的所述体积或所述填充高度。
11.一种用于监测松散材料的表面拓扑的方法,其包括以下步骤:
扫描所述松散材料的表面的第一区域(103)和所述松散材料的所述表面的第二区域(104);
计算位于所述松散材料的所述表面的所述第一区域下方的所述松散材料的第一体积和/或第一质量和/或第一平均填充高度以及位于所述松散材料的所述表面的所述第二区域下方的所述松散材料的第二体积和/或第二质量和/或第二平均填充高度。
12.根据权利要求11所述的方法,其还包括以下步骤:
将所计算的所述体积或所述填充高度传输到外部控制和评估单元(106)。
13.根据权利要求11或12所述的方法,其还包括以下步骤:
可视化由所述物位测量装置传输的所述体积或所述填充高度。
14.一种程序元件,当其在用于监测松散材料的表面拓扑的系统上执行时,所述程序元件指示所述系统执行根据权利要求11至13中任一项或多项所述的步骤。
15.一种存储有根据权利要求14所述的程序元件的计算机可读介质。
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