[发明专利]信息处理装置、信息处理方法、图像传感器和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210656584.2 申请日: 2022-06-10
公开(公告)号: CN115484418A 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 福田康男 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N5/361 分类号: H04N5/361;H04N5/243
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 代理人: 迟军
地址: 日本东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 信息处理 装置 方法 图像传感器 存储 介质
【说明书】:

发明提供信息处理装置、信息处理方法、图像传感器和存储介质。在预定曝光条件下从OB像素区域中读出像素值,并对该像素值进行预定处理以导出暗电流分量值。通过考虑OB像素区域与分割像素区域的曝光条件之间的差异,根据OB暗电流分量值估计分割像素区域的暗电流分量值。具体地,基于两个像素区域的曝光条件中的曝光时间与增益之比,导出用于根据OB暗电流分量值来计算暗电流分量值的转换率。该转换率被应用于OB像素区域的像素值,或者被应用于根据它们计算的OB暗电流分量值,从而计算针对分割像素区域的曝光条件所估计的暗电流分量值。

技术领域

本公开涉及用于控制摄像期间曝光量的技术。

背景技术

图像传感器在即使没有接收到光的状态下也被通电,这种状态下流过图像传感器的电流被称为暗电流(“dark current”)。如果在没接收到光的状态下从图像传感器读出像素值,则该像素值表示一定程度的值。源自暗电流的该值也包含在从正常像素读取操作中读出的像素值的一部分中。因此,读取的像素值中源自暗电流的分量也称为暗电流分量。暗电流分量通常会提高整个图像的像素值。然后,在该分量没有被去除的情况下,整个图像会显得更亮(lighter)。此外,已知该暗电流分量的值随曝光条件和传感器温度而变化。因此,优选的是,在摄像时自适应地检测该暗电流分量,并基于检测结果去除该暗电流分量。

为了检测该暗电流分量,已知一种方法,该方法在图像传感器的外围部分提供作为遮光像素区域的光学黑(OB)像素区域,在摄像时,从OB像素区域中的像素以及摄像区域(有效像素区域)中的像素读出像素值,并根据OB像素区域的像素值来估计暗电流分量的大小和分布。

近年来,高动态范围(在下文中称为HDR)摄像作为用于扩宽图像传感器的摄像动态范围的摄像方法而广为人知。虽然进行HDR摄像的方法有若干种,但是已知的一种方法是使用图像传感器,该图像传感器将其摄像区域分割成多个子区域,并且可以使用为各子区域单独设置的曝光条件(曝光时间和增益)来进行摄像(参见日本特开第2010-136205号公报)。在下文中,这种摄像方法将被称为“特定区域曝光摄像”,并且为了方便,能够进行特定区域曝光摄像的图像传感器将被称为“特定区域曝光传感器”。

然而,特定区域曝光传感器的问题在于,如在常规实践中一样,基于在单一曝光条件下读出的像素值而估计的暗电流分量值与在不同曝光条件下估计的区域的暗电流分量值不同。这导致无法精确地估计各区域的暗电流分量值。

发明内容

本公开的技术提供了信息处理装置,用于估计要从图像传感器输出的像素值中包含的暗电流分量值,其中,图像传感器的摄像表面包括可以单独设置曝光条件的多个有效像素区域和遮光区域,并且所述信息处理装置包括估计单元,该估计单元被构造为基于从遮光区域的曝光条件和多个有效像素区域中的各有效像素区域的曝光条件导出的转换率,来估计各有效像素区域的暗电流分量值。

根据下面参照附图对示例性实施例的描述,本发明的另外的特征将变得显而易见。

附图说明

图1是示出根据本公开技术的用于实现信息处理装置的示例硬件构造的图,该信息处理装置确定多个像素区域的曝光条件;

图2是示出普通图像传感器中的OB像素区域和有效像素区域的示例的图;

图3是示出能够逐个区域地改变曝光条件的图像传感器的示例的图;

图4是示出基于模型的图像传感器中的暗电流分量的温度特性的图;

图5是示出根据第一实施例的曝光条件确定处理的流程的流程图;

图6是示出采用本公开的图像处理方法的图像传感器的示例构造的图;以及

图7是示出根据第三实施例的曝光条件确定处理的流程的流程图。

具体实施方式

[第一实施例]

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