[发明专利]一种短路退饱和动态检测电路、装置及系统

权利要求书

1.一种碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，包括：

分压输出模块，其输入端耦接待测的所述碳化硅场效应晶体管的漏极，输出端输出所述漏极的电压分压；

故障信号生成模块，与所述分压输出模块并联耦接在所述漏极上，并基于所述漏极的故障状态生成故障信号；以及

检测模块，基于所述漏极的电压分压和所述故障信号检测所述碳化硅场效应晶体管是否处于短路退饱和状态。

2.根据权利要求1所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述检测模块包括：

多个第一比较器，每个比较器的一输入端与所述分压输出模块的输出端耦接，另一输入端与一第一设定阈值电压输出端耦接，每个所述第一设定阈值电压各不相同；

多个第一与电路，与所述多个第一比较器一一对应，每个第一与电路的一输入端耦接所述第一比较器的输出端，另一输入端耦接一第一高电平脉冲信号线，每个第一高电平脉冲信号线每隔第一预设时长产生一高电平脉冲，每个第一高电平脉冲信号线对应的第一预设时长各不相同；

一第二比较器，其一输入端与所述故障信号生成模块的输出端耦接，另一输入端与一第二设定阈值电压输出端耦接；

第二与电路，其一输入端与所述第二比较器的输出端耦接，另一输入端与一第二高电平脉冲信号线耦接，所述第二高电平脉冲信号线每隔第二预设时长产生一高电平脉冲；以及

运算电路，与每个第一与电路和所述第二与电路的输出端耦接，用于输出是否短路故障的判定信号。

3.根据权利要求1所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述分压输出模块，包括：

分压电阻链，包括多个串联的分压电阻，所述分压电阻链的头端与所述漏极耦接，尾端与一接地端耦接；以及

引线，其一端耦接在所述分压电阻链靠近所述尾端的两个分压电阻之间的导线上，另一端作为所述分压输出模块的输出端。

4.根据权利要求3所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述分压输出模块，还包括：

两个第一限压二极管，其中一个第一限压二极管的正极耦接在所述引线上，负极耦接在一第一高电平电压线上，其中另一个第一限压二极管的负极耦接在所述引线上，正极耦接在所述接地端上。

5.根据权利要求3所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述分压输出模块，还包括：

位于所述引线上的滤波电阻；和/或，

耦接在所述引线和所述接地端之间的滤波电容。

6.根据权利要求3所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述故障信号生成模块，包括：

二极管链，其包括多个串联的二极管，其负极端耦接所述漏极，正极端作为所述故障信号生成模块的输出端。

7.根据权利要求6所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述故障信号生成模块，还包括：

两个第二限压二极管，其中一个第二限压二极管的正极耦接在所述二极管链的输出导线上，负极耦接在一第二高电平电压线上，其中另一个第二限压二极管的负极耦接在所述二极管链的输出导线上，正极耦接在所述接地端上。

8.根据权利要求7所述的短路退饱和动态检测电路，其特征在于，所述故障信号生成模块，还包括：

限流电阻，其一端与所述第二高电平电压线耦接，另一端耦接在所述二极管链的输出导线上。

9.一种碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测装置，其特征在于，包括碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测电路；所述碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测电路包括：

分压输出模块，其输入端耦接待测的所述碳化硅场效应晶体管的漏极，输出端输出所述漏极的电压分压；

故障信号生成模块，与所述分压输出模块并联耦接在所述漏极上，并基于所述漏极的故障状态生成故障信号；以及

检测模块，基于所述漏极的电压分压和所述故障信号检测所述碳化硅场效应晶体管是否处于短路退饱和状态。

10.一种碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测系统，其特征在于，包括：

待测的碳化硅场效应晶体管，其包括一漏极；以及碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测电路；所述碳化硅场效应晶体管的短路退饱和动态检测电路包括：

分压输出模块，其输入端耦接待测的所述碳化硅场效应晶体管的漏极，输出端输出所述漏极的电压分压；

故障信号生成模块，与所述分压输出模块并联耦接在所述漏极上，并基于所述漏极的故障状态生成故障信号；以及

检测模块，基于所述漏极的电压分压和所述故障信号检测所述碳化硅场效应晶体管是否处于短路退饱和状态。