[发明专利]一种电磁波透视数据的成像方法在审

专利信息
申请号: 202210696838.3 申请日: 2022-06-20
公开(公告)号: CN115032703A 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 张鑫;张辉;邢涛;朱广辉;李国法;孙文斌;梁红波 申请(专利权)人: 北京探创资源科技有限公司
主分类号: G01V3/12 分类号: G01V3/12;G01V3/38
代理公司: 北京圣州专利代理事务所(普通合伙) 11818 代理人: 王杰
地址: 100160 北京市丰台区汽*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电磁波 透视 数据 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种电磁波透视数据的成像方法,其特征在于,步骤如下:

S1、对仪器测量的场强值HPi,按照电磁波传播射线路径的长度li从大到小排序,排序后的数据记为(li,HPi),其中,i=0,1,2…;

S2、对数据(li,HPi)做分析,计算出一条该组数据HPi值变化的趋势线,将该趋势线拉平,HPi跟随着趋势线的拉平而整体调整,以实现HPi矫正;

S3、对矫正后的HPi按照数值大小,从大到小进行排序,排序后将前10%的HPi的值设置为第10%位置点的HPi

S4、利用公式计算出衰减系数β;

建立CT层析成像模型,对β进行CT成像,绘制β等值线或等值区图,β数值大的区域划定为异常区。

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