[发明专利]一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法在审

专利信息
申请号: 202210701521.4 申请日: 2022-06-21
公开(公告)号: CN115060751A 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 王春建;黄沁源 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207;G01N23/2055;G01N23/2005
代理公司: 安徽智联芯知识产权代理事务所(普通合伙) 34237 代理人: 宁政
地址: 650000 云南*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 rir 法定 快速 解决 衍射 重叠 方法
【说明书】:

发明涉及X射线定量分析技术领域,具体为一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法,其包括以下步骤;S1、衍射峰形参数的拟合;S2、弱衍射峰的选取;S3、受干扰衍射峰强度计算:I′为受干扰物相的次衍射峰的强度值,Imax为受干扰物相的最强衍射峰强度值,I’pdf为PDF卡片中受干扰物相的次衍射峰的理论强度值,为PDF卡片中受干扰物相的最强衍射峰理论强度值,公式为:S4、RIR值法定量计算过程:将S3中计算得到的Imax带入RIR值法定量计算公式,公式为:本发明可解决衍射峰重叠时RIR值法无法计算问题,能在大规模高通量的定量工业需求下快速得到定量结果。

技术领域

本发明涉及X射线定量分析技术领域,尤其涉及一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法。

背景技术

使用X射线粉末衍射对混合物质进行定量分析是粘土矿物研究中的一项重要技术。目前,该技术已发展为全图拟合法和单峰方法两大类。全图拟合法通过实测图谱与标准晶体结构数据拟合来执行,例如Rietveld精修方法。然而,由于其操作的复杂性和时间成本,该方法不适用于需要快速量化或高通量检测行业,如地质、鉴定、制造业等。相比之下,单峰方法通过比较实测强度与标准强度的比值,然后将其强度与样品中的物相含量相关联后快速得到定量结果。单峰法更适用于常规的应用场景,且更易于建立行业操作标准。在单峰法中,RIR值法已广泛应用于粘土、矿物、地质等行业。该应用方法受粉末衍射标准联合委员会(JCPDS)推广,并采用α-Al2O3作为比较粉末样品衍射强度的标准。

然而,使用RIR值法对混合物质进行量化时需要获取物相最强峰的准确衍射强度,但在某些情况下,最强峰角度位置与其他物相的衍射峰发生重叠,使用单峰拟合无法获取其最强峰的准确衍射强度。通过调整粉末衍射仪的光路几何与测量参数可以改善衍射峰的重叠效应,但对于位置接近的衍射峰仍无法解决,此外,改变仪器的光学几何与测量参数会导致收获的衍射信号质量下降,低信号的衍射图谱同样会影响定量结果。目前,以RIR值法为首的单峰法无法处理衍射峰重叠问题,这也是相关定量需求行业的一大困扰。

发明内容

本发明目的是针对背景技术中存在的衍射峰重叠时RIR值无法计算问题,提出一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法。

本发明的技术方案:一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法,包括以下步骤;

S1、衍射峰形参数的拟合:通过物相检索确定混合物中的物相后,使用衍射峰数据拟合软件对混合物样品的衍射峰进行函数拟合得到强度值;

S2、弱衍射峰的选取:根据物相检索的结果确定发生重叠的最强衍射峰的干扰来源物相,再选取任意一个受干扰物相的、未发生重叠且强度较好的次衍射峰,提取其拟合结果的强度值;

S3、受干扰衍射峰强度计算:根据物相检索得到的PDF卡片数据,提取受干扰物相在相应2θ位置的理论强度值,并根据以下公式计算得到受干扰物相在重叠位置处的准确强度值,其中I′为受干扰物相的次衍射峰的强度值,Imax为受干扰物相的最强衍射峰强度值,I’pdf为PDF卡片中受干扰物相的次衍射峰的理论强度值,为PDF卡片中受干扰物相的最强衍射峰理论强度值,公式为:

S4、RIR值法定量计算过程:将S3中计算得到的Imax带入RIR值法定量计算公式,其中Wα为a物相的质量分数,I为物相最强峰的强度值,RIR为物相的RIR值,公式为:

优选的,S1中,衍射峰参数的拟合软件为JADE。

优选的,S1中,衍射峰参数的拟合软件为Highscore。

优选的,S1中,衍射峰参数的拟合软件为Origin。

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