[发明专利]基于参考光路总强度排序的鬼成像优化方法

权利要求书

1.基于参考光路总强度排序的鬼成像优化方法，其特征在于：包括以下步骤：

1)生成M束序列散斑图案这里i＝1,2,L,M；

2)利用步骤1)中生成的序列散斑图案照射被照物体区域，利用桶探测器对被照物体区域透射的总强度值进行测量，获得序列桶探测器值这里i＝1,2,L,M；

3)计算1)中每束序列散斑图案的总光强进而获得散斑图案总光强的平均值S_R，并以升序方式对M束序列散斑图案的总光强值进行排序，使相邻散斑图间的差异性降低；

4)将排序以后的M束序列散斑图案总光强值划分成三个区域，即左边区域(S_Rmin,S_RN)、均值附近区域(S_RN,S_RP)以及右边区域(S_RP,S_Rmax)，S_RN,S_RP表示阈值，S_Rmin表示排序后得到的总光强最小值，S_Rmax表示排序后得到的总光强最大值；

5)依据步骤4)的划分依据，左边区域(S_Rmin,S_RN)范围中的序列散斑图案划分到子集{P_R1}，均值附近区域(S_RN,S_RP)范围中的序列散斑图案划分到子集{P_R2}，右边区域(S_RP,S_Rmax)范围中的序列散斑图案划分到子集{P_R3}，重新将相应的散斑图案划分为三个子集：{P_R1},{P_R2},{P_R3}；再依据散斑图案的三个子集将桶探测器值分为三个子集：{B_R1},{B_R2},{B_R3}；

6)利用鬼成像方法对新获得的散斑图案子集{P_Rj}和桶探测器值序列{B_Rj}进行关联运算，以获得鬼像，此时，j＝1,2,3。

2.根据权利要求1所述的基于参考光路总强度排序的鬼成像优化方法，其特征在于：通过散斑图案子集子集{P_Rj}、桶探测器均值筛选的子集{P_Bj}联合筛选进一步降低数据冗余，提高成像质，筛选公式为：mode-1:I_c＝P_R2-P_R2|P_RB2，mode-2:I_c＝(P_R1+P_R2)-P_RB2，mode-3:I_c＝(P_R1+P_R2)-P_RB2∪P_R2，其中，I_c是在对散斑图案总光强筛选后的散斑序列进行相关运算得到的散斑序列；P_RBj是根据P_Bj排序得到的散斑图案。

3.根据权利要求1或2所述的基于参考光路总强度排序的鬼成像优化方法，其特征在于：通过确定比例划分参数来确定阈值，先设定一个比例划分参数其中M代表总的散斑图案数量，M'代表从M中筛选出来的散斑图案数量，根据M'确定S_RN、S_RP，划分参数取0.8-0.9时，成像效果最好。