[发明专利]一种实现光模块在老化过程中带业务测试的系统在审
申请号: | 202210707534.2 | 申请日: | 2022-06-21 |
公开(公告)号: | CN115529080A | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 申腾;李林科;吴天书;杨现文;张健 | 申请(专利权)人: | 武汉联特科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 吴静 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 模块 老化 过程 业务 测试 系统 | ||
一种实现光模块在老化过程中带业务测试的系统,包括:电源单元、通讯单元和散热单元;其中:电源单元,用于将市政电压转换为供系统供电的直流电压;通信单元,用于主MCU和子MCU进行通信,对光模块监控数据和DSP的监控数据进行传输;散热单元,用于对整个系统进行散热。本发明利用DSP实现对光模块收发码元信号;同时,利用MCU与DSP通信,实现对DSP的控制和发码总数、误码总数的读取。MCU还具备与光模块通信和控制的功能。解决了现有技术中,光模块老化系统都只能给光模块提供电源以及与光模块通信,无法满足带业务老化的需求。
技术领域
本发明涉及的是光模块领域,特别涉及一种实现光模块在老化过程中带业务测试的系统。
背景技术
随着光通信领域的高速发展,光模块的用量越来越大,尤其是100G及以上的高速光模块,近几年的需求量增长非常迅猛。同时,产业链对高速光模块的质量要求也是逐渐提高。传统的模块老化模式是仅给模块供电,监控模块的上报信息,但这已无法满足客户对光模块的质量要求。在模块老化阶段带码元信号测试的要求已经被越来越多的客户提出;同时,这种测试方法也有助于光模块厂家提前检出不良的模块,降低出货产品的失效率。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的种实现光模块在老化过程中带业务测试的系统。
为了解决上述技术问题,本申请实施例公开了如下技术方案:
一种实现光模块在老化过程中带业务测试的系统,包括:电源单元、通讯单元和散热单元;其中:
电源单元,用于将市政电压转换为供系统供电的直流电压;
通信单元,用于主MCU和子MCU进行通信,对光模块监控数据和DSP的监控数据进行传输;
散热单元,用于对整个系统进行散热。
进一步地,电源单元,具体包括:ACDC转换模块、DC降压模块;其中:
ACDC转换模块,安装于市政电压与主板和老化板之间,用于将外接的220V交流市电转换为主板和老化板的48V直流电压;
DC降压模块,安装于主板和老化板上,用于将48V直流电压降低为3.3V直流电压,为主板和老化板进行供电。
进一步地,通信单元,包括主MCU和子MCU,主MCU通过IIC总线与子MCU连接;其中:
主MCU,用于与上位机交互,将采集到的数据汇总后发往PC端;
子MCU,通过不同的IIC地址响应主MCU的请求,将汇总的光模块监控数据和DSP对误码的监控数据发送给主MCU。
进一步地,子MCU获取光模块监控数据的具体方法为:子MCU与多个光模块通过IIC总线相连接,每隔一段时间轮询访问一次光模块,将光模块的监控数据存储在固定的flash中,以供主MCU访问。
进一步地,子MCU获取DSP对误码的监控数据的具体方法为:子MCU通过IIC总线每隔一段时间轮询访问一次DSP,将DSP的监控数据存储在flash中,供主MCU访问。
进一步地,每个DSP有一个独立的EEPROM用于存储DSP的firmware,这是独立在常规通信轮询系统外的,仅在系统上电时将DSP的firmware写入DSP。
进一步地,散热单元,包括多个安装于老化板预设位置的直流风机,风机的出风方向顺着老化箱的出风方向,利用算法控制风机电压从而控制风机转速,达到使热量在整个箱体内均匀分布的目的。
进一步地,老化板上安装3排,每排3个直流风机,分别为上直流风机、中直流风机和下直流风机。
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