[发明专利]一种IGBT驱动器优化方法及系统

说明书

本发明提供的一种IGBT驱动器优化方法及系统，该系统包括：IGBT适配优化单元、IGBT驱动器及IGBT状态监测单元。IGBT适配优化单元通过将被适配IGBT模组的期望工作参数信息与IGBT状态监测单元反馈的被适配IGBT模组的实际状态信息进行比对，生成优化逻辑，依据IGBT适配优化原则，将IGBT驱动器参数调节到最优的状态，从而满足IGBT的工作要求。从而节省了操作人员手动修改驱动器的时间，降低了成本，同时提升了驱动器对IGBT的匹配性。

技术领域

本发明涉及IGBT驱动控制领域，具体涉及一种IGBT驱动器优化方法及系统。

背景技术

IGBT(绝缘栅双极型晶体管)是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件。以IGBT器件为基础设计的电力电子变换器被广泛应用在各行各业，包括开关电源、机车牵引、采矿、冶金、电机驱动、电力传输、电力电子变压器、变频器等各种场合，对于整个社会经济的发展起着至关重要的作用。

IGBT驱动器连接于IGBT器件的门极和发射极上，为器件提供驱动电压和保护功能。IGBT工作状态包含开通过程，关断过程和故障工况，每个过程对IGBT驱动器提出不同的要求。IGBT开通过程关注的参数包含开通延时，电流上升时间，电流变化率，反向恢复电流以及开通损耗；IGBT关断过程关注的参数包含关断延时，电压上升时间，电压变化率，电压尖峰以及关断损耗；IGBT故障状态关注的参数包含栅极电压，电流变换率，电流尖峰，电压尖峰以及故障时间。为了满足上述参数，需要驱动器做出相应的调整，比如调整驱动器的栅极电阻，驱动电流，驱动电压，驱动波形等等。以往的调节方式为离线方法，即需要手动修改驱动器的软硬件参数，然后再对IGBT模块进行一遍测试，倘若测试结果不满意，需要重新修改一遍驱动器参数。通常为了完成一种IGBT模块的应用要求，需要手动反复迭代十次以上，效率低且成本高。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中手动修改驱动器的软硬件参数导致驱动器参数优化效率低且成本高的缺陷，从而提供一种IGBT驱动器优化方法及系统。

为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供一种IGBT驱动器优化系统，包括：IGBT适配优化单元、IGBT驱动器及IGBT状态监测单元，其中，

所述IGBT状态监测单元，用于监测被适配IGBT模组的状态信息，将所述状态信息反馈至所述IGBT适配优化单元；

所述IGBT适配优化单元，用于获取被适配IGBT模组的期望工作参数信息及所述IGBT状态监测单元反馈的被适配IGBT模组的状态信息，并将所述期望工作参数信息与所述状态信息进行比对，生成优化逻辑，将所述优化逻辑发送至所述IGBT驱动器；

所述IGBT驱动器，用于根据所述优化逻辑进行参数调整，并根据调整后的参数对被适配IGBT模组进行测试。

可选地，所述IGBT驱动器，包括：电阻阵列单元、设定电压单元、设定电流单元及控制逻辑配置单元，其中，

所述控制逻辑配置单元，用于根据所述优化逻辑控制所述电阻阵列单元、所述设定电压单元及所述设定电流单元进行相应地参数配置；

所述电阻阵列单元，用于根据所述优化逻辑进行电阻的排列组合，为被适配IGBT模组提供不同的开通电阻值和关断电阻值；

所述设定电压单元，用于根据所述优化逻辑为被适配IGBT模组的门级提供不同的驱动电压；

所述设定电流单元，用于根据所述优化逻辑为被适配IGBT模组的门级提供不同的驱动电流。

可选地，所述IGBT驱动器，还包括：存储单元，所述存储单元，用于保存所述IGBT驱动器中的所述电阻阵列单元、所述设定电压单元及所述设定电流单元的配置参数，并将所述配置参数上传至所述IGBT适配优化单元。