[发明专利]用于电子部件测试的分选机的中继装置及操作方法

说明书

本发明涉及一种用于电子部件测试的分选机的中继装置及操作方法。根据本发明的用于电子部件测试的分选机的中继装置用于中继从客户托盘到测试器或从测试器到客户托盘的电子部件，包括：设置架，在上表面放置电子部件；夹持器，夹持放置于设置架的上表面的适配器的后端部位的左右两端；支撑器，支撑安置在放置于设置架的上表面的适配器的电子部件或解除支撑状态，或者吸附器，真空吸附并固定放置于设置架的适配器的前端部位；开放器，开放通过夹持器固定的适配器。根据本发明，在制作过程中发生加工公差或弯曲的电子部件能够适当地安置于适配器，从而防止中继过程中的不良操作，最终电子部件能够准确地电连接于测试器，因而提高对分选机的可靠性。

技术领域

本发明涉及一种可以在用于测试电子部件的分选机中使用的中继装置。

背景技术

生产的电子部件(例如，半导体元件、基板、SSD等)由测试器测试后被分为合格品和不合格品，只有合格产品才能出厂。

电子部件只有电连接于测试器才能进行测试，此时，通过将电子部件电连接于测试器来支持测试电子部件的设备为用于测试电子部件的分选机(以下简称“分选机”)。

分选机在伴随着新的电子部件的开发而被提出和制造，正在进行用于稳定化的各种后续开发。

最近以来，作为搭载有多个电子元件的大型电子部件的固态硬盘(SSD：SolidState Drive)的普及是扩大的趋势。

最初，由于固态硬盘的需求小而只生产了少量的时候，固态硬盘通过手动操作直接电连接到测试器并解除其连接，但是随着对固态硬盘的需求暴增，对根据手动操作的测试支持遇到了困境。

然而，固态硬盘的厚度、结构以及重量等与以往的电子部件不同，无法直接使用以往的分选机，因此开发了符合支持诸如固态硬盘的大型电子部件的测试的分选机，并申请了韩国公开专利10-2019-0050483号以及10-2019-0061291号。

一般来说，固态硬盘的情况可以根据搭载的电子元件的种类或其用途等而具有多种规格，需要用于支持对这种多种规格的电子元件的测试的分选机。然而，分选机价格高，其规模较大，故在单价和安装空间的确保等方面存在很多制约。因此，需要将具有多种规格的电子部件的测试在一个分选机来完成以降低费用和所需空间的技术。

此外，为了测试每一个不同规格的电子部件，需要更换符合相应电子部件的规格的部件，即使不需要更换部件，也需要用于供应新的电子部件的暂停时间。据此，分选机和测试器的运行率下降，产生繁杂的人力损失，因此，需要即使在分选机的一周期运行或连续运行时也能将暂停时间最小化的分选机。

另一方面，在作为以往的小品种大量生产产品的半导体元件的情况下，采用如下方式：配备可以装载数百个以上的半导体元件的测试托盘，使用多个拾取器直接夹持半导体元件来插入到测试托盘的插入件。在这样的系统中，由于在插入件中确保半导体元件的位置，并在与测试器的连接过程中也确保且半导体元件的位置，因此即使在将电子部件安置到测试托盘的过程中的精度稍微降低，也不会发生问题。

然而，具有包括半导体元件的各种电子元件的诸如固态硬盘之类的电子部件，因对应应用装置的多样性而处于多产品少量生产的趋势，并且还存在需要经过各种类型的测试的情况。然而，由于并非所有测试器的测试插座都存在于相同的位置，因此，在如小品种大量生产的产品一样需要配备测试托盘的情况下，需要按照电子部件或测试器的种类来配备高价的测试托盘的制造以及与其匹配的分选机。所以，考虑了不使用另外的测试托盘而用夹具直接夹持电子部件的状态下，将电子部件连接于测试插座，但通过以往的研究确认了这存在相当大的问题。