[发明专利]一种变质岩区晶质石墨矿找矿方法及系统

权利要求书

1.一种变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、根据变质岩区的晶质石墨矿床及矿点的时空分布特征，结合该区域的地质背景、构造变形及岩相组合特征，将矿床的成矿模式确定为变质岩区的区域变质型成矿模式，在变质岩区的岩石层位中寻找晶质石墨矿床；

B、对变质岩区开展1∶10000或1∶5000构造-岩相填图，编制构造-岩相专题图件，确定含晶质石墨岩石层位，以及含晶质石墨矿岩石类型及其构造变化特征；

C、开展激电中梯面积性测量，对步骤B确定的含晶质石墨岩石层位进行异常圈定，圈定含晶质石墨的岩石层位分布范围，圈定找矿靶区；

D、对步骤C圈定的找矿靶区进行可控源音频大地电磁测深剖面测量，确定含晶质石墨岩石层位赋存深度及形态变化特征；

E、对步骤D确定的含晶质石墨岩石层位利用机械岩心钻探进行揭露；

F、对步骤E采集的岩心针对含晶质石墨的岩石进行样品采集，分析其固定碳含量，确定晶质石墨矿体分布；

G、依据步骤F固定碳分析结果，圈定矿体，估算矿体的整体资源量。

2.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤A中的变质岩区为片麻岩、变粒岩、透辉岩等变质岩石层位，以变质岩石层位中的晶质石墨为找矿对象。

3.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤B中，1∶10000或1∶5000构造-岩相填图包括以下方面，采用遥感解译，初始以1∶50000的地质图进行分析，利用手持GPS导航定位功能，进一步开展地质剖面测量、地质路线穿越或追索的方法，编制工作区1∶10000或1∶5000的构造-岩相专题图件。

4.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤C中激电中梯面积性测量，根据高级变质岩区地质体的电阻率和极化率特征，圈定相应低电阻率、高极化率的异常范围，初步圈定含晶质石墨岩石层位，圈定找矿靶区。

5.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤D中可控源音频大地电磁测深剖面测量，根据矿体电阻率与围岩电阻率差异，确定含晶质石墨岩石层位赋存深度及形态变化特征，通过视电阻率之间的差异将地下岩石区分为围岩与含晶质石墨层位。

6.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤E中机械岩心钻探揭露隐伏含晶质石墨岩石层位分布位置，包括机械岩心钻探和样品采集；岩心钻探，为全孔取芯机械岩心钻探，孔深≥10m，终孔孔径≥75mm；样品采集，采用1/2辟心法，针对肉眼可见晶质石墨段，按样品长度1-2m连续采集，肉眼可见晶质石墨矿段上下各采集一件样品。

7.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤F中分析其固定碳含量，确定晶质石墨矿体分布；通过分析每件样品中固定的含量，分别确定固定碳含量≥2％和固定碳含量≥2.5％的范围。

8.如权利要求1所述的变质岩区晶质石墨矿找矿方法，其特征在于，所述步骤G中圈定矿体，估算资源量；针对同一剖面不同钻孔样品中固定碳含量≥2.5％的样品进行圈连，绘制勘探线剖面、矿体水平投影图或纵投影图，利用块段法，估算晶质石墨矿矿石量和晶质石墨矿物量。