[发明专利]一种自发裂变源年龄的估算方法在审

专利信息
申请号: 202210723635.9 申请日: 2022-06-23
公开(公告)号: CN114966803A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 吕学升;刘国荣;李力力;赵永刚 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01T1/18 分类号: G01T1/18
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 黄景辉;浦彩华
地址: 102413 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 自发 裂变 年龄 估算 方法
【权利要求书】:

1.一种自发裂变源年龄的估算方法,其特征在于,包括:

获取所述自发裂变源中的第一核素的总和的放射性活度A11

根据所述自发裂变源中的由多种核素自发裂变产生的所述第一核素的总和的放射性活度A21与所述自发裂变源的年龄t之间的关系,并令A21=A11,计算t;

其中,所述多种核素至少包括所述自发裂变源的主要核素的至少一种衰变产物和所述自发裂变源的主要核素。

2.根据权利要求1所述的自发裂变源年龄的估算方法,其特征在于,所述主要核素自发裂变产生的所述第一核素的总和的放射性活度与t之间的关系为:

式中,为所述主要核素自发裂变产生的所述第一核素的总和的放射性活度,为所述第一核素的衰变常数,为所述主要核素的衰变常数,为初始时刻所述主要核素的总和的放射性活度,为所述主要核素的自发裂变分支比,为所述主要核素自发裂产生的所述第一核素的累积产额。

3.根据权利要求1所述的自发裂变源年龄的估算方法,其特征在于,所述主要核素的一种衰变子体自发裂变产生的所述第一核素的总和的放射性活度与t的关系为:

式中,为t时刻所述主要核素第(n-1)级的衰变子体的原子核数目,为t时刻所述主要核素的原子核数目,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体的衰变常数,为所述主要核素的衰变常数,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体的自发裂变分支比,为所述主要核素的自发裂变分支比,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体自发裂变产生的所述第一核素的原子核数目,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体自发裂产生的所述第一核素的累积产额,为初始时刻所述主要核素第(n-1)级的衰变子体原子核数目,为主要核素的第(n-1)级的衰变子体自发裂变产生的第一核素的总和的放射性活度。

4.根据权利要求1所述的自发裂变源年龄的估算方法,其特征在于,还包括:

获取所述自发裂变源中的第二核素的总和的放射性活度A12

计算A11与A12之间的比值R1

所述根据A21与t之间的关系,并令A21=A11,计算t为:根据A21与所述多种核素自发裂变产生的所述第二核素的总和的放射性活度A22之间的比值R2与t之间的关系,并令R2=R1,计算t。

5.根据权利要求4所述的自发裂变源年龄的估算方法,其特征在于,所述多种核素中的任一种核素均具有一种与所述第二核素的核素种类相同的短裂变产物,所述主要核素自发裂变产生的所述第二核素的总和的放射性活度与t之间的关系为:

式中,为所述主要核素自发裂变产生的所述第二核素的总和的放射性活度,为初始时刻所述主要核素的总和的放射性活度,为所述主要核素的自发裂变分支比,为所述主要核素自发裂产生的所述第二核素的累积产额,为所述主要核素的衰变常数。

6.根据权利要求4所述的自发裂变源年龄的估算方法,其特征在于,所述主要核素的一种衰变子体自发裂变产生的所述第二核素的总和的放射性活度与t的关系为:

式中,为t时刻所述主要核素第(n-1)级的衰变子体的原子核数目,为t时刻所述主要核素的原子核数目,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体的衰变常数,为所述主要核素的衰变常数,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体的自发裂变分支比,为所述主要核素的自发裂变分支比,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体自发裂变产生的所述第二核素的原子核数目,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体自发裂产生的所述第二核素的累积产额,为初始时刻所述主要核素第(n-1)级的衰变子体原子核数目,为所述主要核素第(n-1)级的衰变子体自发裂变产生的第一核素的总和的放射性活度。

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