[发明专利]多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法、装置和介质

权利要求书

1.一种多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法，包括获取多相非均质组织样品，以及向所述多相非均质组织样品发射探测波，所述多相非均质组织样品包括集料和混合物，其特征在于，所述优化方法还包括：

构建所述多相非均质组织样品的电磁模型；

根据所述电磁模型，识别所述多相非均质组织样品中的脱空标注区域；

计算探测波在脱空标注区域内的第一信号幅值平均值、在脱空标注区域的左相邻区域内的第二信号幅值平均值，以及在脱空标注区域的右相邻区域内的第三信号幅值平均值；

根据所述第一信号幅值平均值、第二信号幅值平均值以及第三信号幅值平均值，来确定所述脱空辨识指标。

2.根据权利要求1所述的多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法，其特征在于，所述构建多相非均质组织样品的电磁模型包括：

获取所述多相非均质组织样品的剖面扫描图；

对所述剖面扫描图进行预处理，以获取所述剖面扫描图的像素比；

对所述剖面扫描图的介电常数赋值；

根据所述像素比、介电常数、以及所述多相非均质组织样品的尺寸，来构建所述多相非均质组织样品的电磁模型。

3.根据权利要求2所述的多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法，其特征在于，所述对剖面扫描图的介电常数赋值包括：

根据所述集料的材质确定所述集料的介电常数，

根据公式来计算混合物的介电常数，

其中，θ_a表示混合物中体积分数比最高的a组分的体积分数，∈_a表示a组分的介电常数，θ_b表示内部孔隙的体积分数，∈_b表示内部孔隙的介电常数。

4.根据权利要求2所述的多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法，其特征在于，所述根据像素比、介电常数、以及所述多相非均质组织样品的尺寸，来构建所述多相非均质组织样品的电磁模型包括：

根据公式G(x，y)＝H(x，y)/P_h(x，y),G(x，y)＝L(x，y)/P_I(x，y)来确定网格大小参数，其中L(x，y)为多相非均质组织样品的宽度，H(x，y)为多相非均质组织样品的深度,P_h(x，y)为所述剖面扫描图的纵向像素比，P_I(x，y)为所述剖面扫描图的横向像素比,G(x，y)为网格大小参数；

根据所述网格大小参数构建多相非均质组织样品的电磁模型。

5.根据权利要求1所述的多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法，其特征在于，所述根据电磁模型识别所述多相非均质组织样品中的脱空标注区域包括：

根据所述电磁模型，获取所述探测波在多相非均质组织样品中传播的B型扫描图谱；

根据所述B型扫描图谱的同相轴特征识别脱空标注区域。

6.根据权利要求1所述的多相非均质组织的脱空辨识指标的优化方法，其特征在于，所述计算探测波在脱空标注区域内深度方向上的第一信号幅值平均值包括：

提取所述脱空标注区域内的至少一道A型扫描图谱的数据，以计算第i道A型扫描图谱中的波峰电场强度和波谷电场强度；

根据公式：A_vi＝E_Zpi-E_Zti计算探测波在所述脱空标注区域深度方向上的信号幅值，其中E_Zpi为所述波峰电场强度，E_Zti为所述波谷电场强度,A_vi为探测波在所述脱空标注区域深度方向上的信号幅值；

根据公式：计算探测波在所述脱空标注区域深度方向上的第一信号幅值平均值，其中，表示第一信号幅值平均值，i表示探测区域内的至少一道A型扫描图谱中的第i道A型扫描图谱。