[发明专利]显示面板及显示装置

说明书

本申请提供一种显示面板及显示装置，包括非显示区，显示面板包括测试线和至少两条信号线，位于非显示区内的显示面板包括基层，相邻两条信号线的至少部分间隔设置在基层上，测试线位于相邻两条信号线之间；测试线包括第一测试线，当基层上具有金属残留物，相邻两条信号线之间通过金属残留物短路连接时，第一测试线和相邻两条信号线的任一者形成部分测试回路。第一测试线对相邻两条信号线之间的金属残留物进行测试，可以在信号线的制备过程中对金属残留物进行改善，节约了模组材料，降低显示面板的制备成本。因此，本申请提供的显示面板及显示装置，可以及时检测显示面板的信号线的制备缺陷，从而有利于显示面板的制备。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，简称为OLED)，OLED具有主动发光、高对比度、超轻薄、耐低温、响应速度快、功耗低、视角广、抗震能力强等特点，从而得到越来越多的应用。

相关技术中，显示面板可以包括显示区和非显示区，非显示区中设置有多条信号走线，信号走线的一端可以与非显示区中的驱动电路(Integrated Circuit，简称为IC)电连接，信号走线的另一端与显示区的显示面板电连接，从而为显示区内的显示面板提供各种信号。

然而，上述信号走线在制备过程中的制备缺陷无法及时检测，从而不利于显示面板的制备。

发明内容

鉴于上述至少一个技术问题，本申请实施例提供一种显示面板及显示装置，可以及时检测显示面板的信号线的制备缺陷，从而有利于显示面板的制备。

为了实现上述目的，本申请实施例提供如下技术方案：

本申请实施例的第一方面提供一种显示面板，包括非显示区，显示面板包括测试线和至少两条信号线，位于非显示区内的显示面板包括基层，相邻两条信号线的至少部分间隔设置在基层上，测试线位于相邻两条信号线之间；测试线包括第一测试线，当基层上具有金属残留物，相邻两条信号线之间通过金属残留物短路连接时，第一测试线和相邻两条信号线的任一者形成部分测试回路。

本申请实施例提供的显示面板，显示面板可以包括非显示区，显示面板可以包括测试线和至少两条信号线，位于非显示区内的显示面板包括基层，相邻两条信号线的至少部分间隔设置在基层上，测试线位于相邻两条信号线之间。测试线包括第一测试线，当基层上具有金属残留物，相邻两条信号线之间通过金属残留物短路连接时，第一测试线和相邻两条信号线的任一者形成部分测试回路，从而对相邻两条信号线之间的金属残留物进行测试。若发现金属残留物，可以在信号线的制备过程中对金属残留物进行改善，并继续制备形成无金属残留物的显示面板，无需对显示面板进行废弃处理，从而节约了模组材料，降低显示面板的制备成本，有利于显示面板的制备。

在一种可能的实施方式中，还包括显示区，显示区和非显示区邻接，基层包括相对设置的靠近显示区的第一侧边和远离显示区的第二侧边；第一测试线的测试端在基层所在平面上的正投影位于第二侧边的远离显示区的一侧；第一测试线在基层所在平面上的正投影与基层部分重合。

这样，第一测试线的测试端便于与外部的测试设备连接。

在一种可能的实施方式中，第一测试线的连接端的至少部分在基层所在平面上的正投影位于第一侧边和第二侧边之间。

这样，第一测试线可以用于检测第二侧边处的金属残留物。

在一种可能的实施方式中，第一测试线的连接端的至少部分在基层所在平面上的正投影位于第一侧边靠近显示区的一侧。

这样，第一测试线可以用于检测第一侧边和第二侧边处的金属残留物。