[发明专利]一种显示面板及显示装置

说明书

本申请实施例提供一种显示面板及显示装置。显示面板包括衬底基板、多条扫描线、多条数据线、多个显示用子像素及至少一个测试用子像素；显示用子像素包括显示用晶体管、像素电极及公共电极，显示用晶体管的第一漏极与像素电极电连接，且至少两个公共电极电连接；测试用子像素包括测试用晶体管、第一电极及第二电极，且测试用晶体管的第二栅极、第二源极分别与至少一个显示用晶体管的第一栅极、第一源极电连接；第一电极位于第二电极远离测试用晶体管所在膜层的一侧，且第二漏极与第一电极电连接，使得测试用晶体管与至少一个显示用晶体管所处的工作环境相同；通过检测测试用晶体管的电学特性，可以解决无法测试显示用晶体管电学特性的问题。

【技术领域】

本申请涉及显示技术领域，其特别涉及一种显示面板及显示装置。

【背景技术】

当前，显示装置通常采用薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)阵列基板。薄膜晶体管是现有平面显示装置中的重要器件，其特性对于显示装置的显示品质具有直接的影响。因此，若能准确解析显示区TFT的不良，就能准确的对不良情况进行合理规避，进而提出改善方案，以使显示装置中的TFT能够满足更高的要求，从而实现显示装置的高品质显示。

现有技术中，对显示装置中的TFT特性测试一般分为两种：一种是在显示面板的母板的空白区域设计一些TFT特性测试元件组，但是该些TFT特性测试元件组会随着对母板的切割工艺而消失，因此其对TFT的特性测试的时间段有限；另一种是在显示面板的子板的台阶处设计一组或几组TFT特性测试元件组，但在实际应用中，该种方式对显示面板中的TFT的特性测试结果不够精准。

【申请内容】

有鉴于此，本申请实施例提供了一种显示面板及显示装置。

第一方面，本申请提供了一种显示面板，包括衬底基板及设置在所述衬底基板上的多条扫描线与多条数据线，所述显示面板还包括：

多个显示用子像素，包括显示用晶体管、像素电极及公共电极；所述显示用晶体管包括第一栅极、第一源极、第一漏极及第一半导体层，所述第一栅极与所述扫描线电连接、所述第一源极与数据线电连接、所述第一漏极与所述像素电极电连接；至少两个所述显示用子像素中的所述公共电极电连接；

至少一个测试用子像素，包括测试用晶体管、第一电极及第二电极；所述测试用晶体管包括第二栅极、第二源极、第二漏极及第二半导体层，所述第二栅极、第二源极分别与至少一个所述显示用晶体管的所述第一栅极、所述第一源极电连接；

其中，所述第一电极位于所述第二电极远离所述衬底基板的一侧，且所述测试用晶体管的第二漏极与所述第一电极电连接。

在第一方面的一种实现方式中，所述公共电极位于所述像素电极远离所述衬底基板的一侧，所述第一电极与所述公共电极同层设置。

在第一方面的一种实现方式中，所述测试用子像素中的所述第二电极与所述公共电极电连接。

在第一方面的一种实现方式中，所述测试用子像素中的所述第一电极与所述第二电极之间的交叠面积为S1，所述显示用子像素中的所述像素电极与所述公共电极之间的交叠面积为S2，S1＝S2。

在第一方面的一种实现方式中，所述像素电极与所述公共电极中，与所述第一电极同层设置的一者包括多个狭缝；所述第一电极为整面连续结构。

在第一方面的一种实现方式中，所述第一电极作为第一测试引脚。

在第一方面的一种实现方式中，所述第一电极与第一测试引脚电连接。

在第一方面的一种实现方式中，所述第二栅极、第二源极分别与至少一个所述显示用晶体管的所述第一栅极、所述第一源极电连接，包括：