[发明专利]一种POP封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202210758540.0 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115116868A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 史闻;孙伟;吴臻伟;严博 申请(专利权)人: 纳芯半导体科技(浙江)有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488
代理公司: 南京国润知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32696 代理人: 徐博
地址: 322000 浙江省金华市中国(浙江)自由贸易试验区*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 pop 封装 结构 及其 制作方法
【说明书】:

发明公开了一种POP封装结构及其制作方法,包括PCB基板,所述PCB基板上放置有封装板,且PCB基板和封装板上均固定有半导体芯片,并且PCB基板和封装板上均设置有焊接片,所述安装槽开设于封装板上下两端的边侧位置以及PCB基板的顶部边侧位置,所述PCB基板和封装板内均嵌入式设置有导电柱,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均放置有阻挡套,所述阻挡套的上下两端均固定有定位球,所述阻挡套内嵌入式固定有加强筋,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均填充有灌注保护套。该POP封装结构及其制作方法,在回流焊接时有效避免翘曲,可以进行便捷的灌胶密封,同时无需打孔即可实现焊球与外部的电性连接。

技术领域

本发明涉及POP封装结构技术领域,具体为一种POP封装结构及其制作方法。

背景技术

随着电子技术的发展,半导体的使用,越来越趋于高密度、小型化和低功耗,芯片的堆叠是提高电子封装高密化的主要途径之一,其中POP封装技术优势明显,具有良好的发展前景,但是现有的POP封装结构在使用时存在以下问题:

POP封装结构在使用时,大都通过焊球进行连接、固定,焊球的使用过程包括处焊和回流焊,在进行回流焊接时,受材料热匹配性能的影响,容易出现翘曲的情况,现有的POP封装结构,不方便进行缓冲和防翘曲保护,在发生翘曲后,芯片的连接处容易出现断裂,影响整体的成品率,是目前技术中急需解决的问题,同时在封装过程中,还需要进行整体外部的封装固定和保护,现有的POP封装结构,不方便进行便捷的整体封装操作,在堆叠过程中操作步骤复杂,需要很多高精度设备配合,同时封装完毕后还需要镭射钻孔以实现与外部的电性连接,每个过程的出错率都会极大的提高整体的出错率,导致整个封装过程较为困难。

针对上述问题,急需在原有POP封装结构的基础上进行创新设计。

发明内容

本发明的目的在于提供一种POP封装结构及其制作方法,以解决上述背景技术提出现有的POP封装结构,不方便进行缓冲和防翘曲保护,同时不方便进行便捷的整体封装操作的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种POP封装结构,包括PCB基板,所述PCB基板上放置有封装板,且PCB基板和封装板上均固定有半导体芯片,并且PCB基板和封装板上均设置有焊接片,而且焊接片与半导体芯片通过焊丝相连接;

还包括:

安装槽,所述安装槽开设于封装板上下两端的边侧位置以及PCB基板的顶部边侧位置,且安装槽内通过弹性金属片连接有金属放置座,并且金属放置座内焊接有焊球,所述PCB基板和封装板内均嵌入式设置有导电柱,且导电柱与弹性金属片相连接,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均放置有阻挡套,且阻挡套位于金属放置座的外侧,所述阻挡套的上下两端均固定有定位球,且定位球位于定位槽内,并且定位槽开设于封装板上下两端的边侧位置以及PCB基板的顶部边侧位置,所述阻挡套内嵌入式固定有加强筋,且阻挡套的中部位置横向开设有引脚孔,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均填充有灌注保护套。

优选的,所述封装板的中部为镂空结构设计,且封装板上的镂空结构位于半导体芯片和焊接片之间,使得在完成整体叠层后,可以进行一次性的灌胶封装操作。

优选的,所述金属放置座的外端呈内空的圆台形结构设计,且金属放置座的内端呈圆柱形结构在安装槽内贴合滑动,并且安装槽在PCB基板和封装板上周向分布,而且金属放置座外端的边侧设计为镂空结构,同时金属放置座外端的直径小于安装槽外端的内径,金属放置座适用于不同直径的焊球,并对焊接进行定位焊接,同时在进行回流焊时,金属放置座在安装槽内得以受力活动,便于后续缓冲。

优选的,所述导电柱的一端呈“T”字形结构与上下两组弹性金属片相连接,且每组弹性金属片关于金属放置座的中心轴线等角度分布有四个,并且弹性金属片呈弧形结构设计,弹性金属片起到连通电路的功能,同时在回流焊时,金属放置座的活动可以带动弹性金属片的压缩或拉伸,通过弹性金属片进行缓冲,避免出现翘曲。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于纳芯半导体科技(浙江)有限公司,未经纳芯半导体科技(浙江)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210758540.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top