[发明专利]一种POP封装结构及其制作方法在审
申请号: | 202210758540.0 | 申请日: | 2022-06-30 |
公开(公告)号: | CN115116868A | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
发明(设计)人: | 史闻;孙伟;吴臻伟;严博 | 申请(专利权)人: | 纳芯半导体科技(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488 |
代理公司: | 南京国润知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32696 | 代理人: | 徐博 |
地址: | 322000 浙江省金华市中国(浙江)自由贸易试验区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pop 封装 结构 及其 制作方法 | ||
本发明公开了一种POP封装结构及其制作方法,包括PCB基板,所述PCB基板上放置有封装板,且PCB基板和封装板上均固定有半导体芯片,并且PCB基板和封装板上均设置有焊接片,所述安装槽开设于封装板上下两端的边侧位置以及PCB基板的顶部边侧位置,所述PCB基板和封装板内均嵌入式设置有导电柱,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均放置有阻挡套,所述阻挡套的上下两端均固定有定位球,所述阻挡套内嵌入式固定有加强筋,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均填充有灌注保护套。该POP封装结构及其制作方法,在回流焊接时有效避免翘曲,可以进行便捷的灌胶密封,同时无需打孔即可实现焊球与外部的电性连接。
技术领域
本发明涉及POP封装结构技术领域,具体为一种POP封装结构及其制作方法。
背景技术
随着电子技术的发展,半导体的使用,越来越趋于高密度、小型化和低功耗,芯片的堆叠是提高电子封装高密化的主要途径之一,其中POP封装技术优势明显,具有良好的发展前景,但是现有的POP封装结构在使用时存在以下问题:
POP封装结构在使用时,大都通过焊球进行连接、固定,焊球的使用过程包括处焊和回流焊,在进行回流焊接时,受材料热匹配性能的影响,容易出现翘曲的情况,现有的POP封装结构,不方便进行缓冲和防翘曲保护,在发生翘曲后,芯片的连接处容易出现断裂,影响整体的成品率,是目前技术中急需解决的问题,同时在封装过程中,还需要进行整体外部的封装固定和保护,现有的POP封装结构,不方便进行便捷的整体封装操作,在堆叠过程中操作步骤复杂,需要很多高精度设备配合,同时封装完毕后还需要镭射钻孔以实现与外部的电性连接,每个过程的出错率都会极大的提高整体的出错率,导致整个封装过程较为困难。
针对上述问题,急需在原有POP封装结构的基础上进行创新设计。
发明内容
本发明的目的在于提供一种POP封装结构及其制作方法,以解决上述背景技术提出现有的POP封装结构,不方便进行缓冲和防翘曲保护,同时不方便进行便捷的整体封装操作的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种POP封装结构,包括PCB基板,所述PCB基板上放置有封装板,且PCB基板和封装板上均固定有半导体芯片,并且PCB基板和封装板上均设置有焊接片,而且焊接片与半导体芯片通过焊丝相连接;
还包括:
安装槽,所述安装槽开设于封装板上下两端的边侧位置以及PCB基板的顶部边侧位置,且安装槽内通过弹性金属片连接有金属放置座,并且金属放置座内焊接有焊球,所述PCB基板和封装板内均嵌入式设置有导电柱,且导电柱与弹性金属片相连接,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均放置有阻挡套,且阻挡套位于金属放置座的外侧,所述阻挡套的上下两端均固定有定位球,且定位球位于定位槽内,并且定位槽开设于封装板上下两端的边侧位置以及PCB基板的顶部边侧位置,所述阻挡套内嵌入式固定有加强筋,且阻挡套的中部位置横向开设有引脚孔,所述PCB基板与封装板之间以及装板与装板之间均填充有灌注保护套。
优选的,所述封装板的中部为镂空结构设计,且封装板上的镂空结构位于半导体芯片和焊接片之间,使得在完成整体叠层后,可以进行一次性的灌胶封装操作。
优选的,所述金属放置座的外端呈内空的圆台形结构设计,且金属放置座的内端呈圆柱形结构在安装槽内贴合滑动,并且安装槽在PCB基板和封装板上周向分布,而且金属放置座外端的边侧设计为镂空结构,同时金属放置座外端的直径小于安装槽外端的内径,金属放置座适用于不同直径的焊球,并对焊接进行定位焊接,同时在进行回流焊时,金属放置座在安装槽内得以受力活动,便于后续缓冲。
优选的,所述导电柱的一端呈“T”字形结构与上下两组弹性金属片相连接,且每组弹性金属片关于金属放置座的中心轴线等角度分布有四个,并且弹性金属片呈弧形结构设计,弹性金属片起到连通电路的功能,同时在回流焊时,金属放置座的活动可以带动弹性金属片的压缩或拉伸,通过弹性金属片进行缓冲,避免出现翘曲。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造