[发明专利]电子元器件检测方法、装置及自动质检设备

权利要求书

1.一种电子元器件检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；

基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；所述掩膜用于覆盖掉所述目标图像中的非目标电子元器件安装区域，保留所述目标图像中的目标电子元器件安装区域；

确定所述遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于所述各像素点的像素值，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。

2.根据权利要求1所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像，具体包括：

确定所述待检测对象对应的基准对象的标准图像；

将所述标准图像与所述原始图像进行特征匹配，得到匹配结果；

基于所述匹配结果，确定所述目标图像。

3.根据权利要求1所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述掩膜包括基于所述目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜；

相应地，所述基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像，具体包括：

确定所述目标图像在所述目标颜色空间下的指定图像；

基于所述目标掩膜，对所述指定图像进行遮罩，得到所述遮罩图像。

4.根据权利要求3所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述目标掩膜的确定方法包括：

基于所述目标颜色信息的取值范围，确定所述目标电子元器件的掩膜保留范围；

基于所述掩膜保留范围，确定所述目标掩膜。

5.根据权利要求4所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述目标颜色空间，具体包括：RGB颜色空间、灰度空间以及HSV颜色空间中的一种。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述待检测对象包括主板，所述目标电子元器件包括跳帽元器件。

7.一种电子元器件检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；

遮罩模块，用于基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；所述掩膜用于覆盖掉所述目标图像中的非目标电子元器件安装区域，保留所述目标图像中的目标电子元器件安装区域；

检测模块，用于确定所述遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于所述各像素点的像素值，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。

8.一种自动质检设备，其特征在于，包括图像采集装置以及如权利要求7所述的电子元器件检测装置，所述图像采集装置与所述电子元器件检测装置连接；

所述图像采集装置用于采集待检测对象的原始图像，并将所述原始图像发送至所述电子元器件检测装置；

所述电子元器件检测装置用于获取所述原始图像，并基于所述原始图像，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-6中任一项所述的电子元器件检测方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的电子元器件检测方法。