[发明专利]基板处理方法在审
申请号: | 202210763589.5 | 申请日: | 2022-06-30 |
公开(公告)号: | CN115706000A | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
发明(设计)人: | 白承大;许今东;金进愿;孙在焕;李强圆 | 申请(专利权)人: | 杰宜斯科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67;B08B3/02 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李丹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 方法 | ||
1.一种基板处理方法,其特征在于,包括如下的步骤:
将晶圆部放置在卡盘台;
将环形盖部装载于所述卡盘台,以将所述晶圆部限制在所述卡盘台;
喷射吸入臂模块向所述晶圆部喷射处理液,且从处理液吸入异物;
从所述卡盘台卸载所述环形盖部;以及
喷射臂模块向所述晶圆部喷射清洗液来清洗所述晶圆部。
2.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
将所述晶圆部放置在所述卡盘台的步骤包括如下的步骤:
传输装置把持从第二移送模块传递的所述晶圆部;以及
随着所述传输装置下降,将所述晶圆部放置在所述卡盘台。
3.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
所述环形盖部装载于所述卡盘台,以将所述晶圆部限制在所述卡盘台的步骤包括如下的步骤:
所述环形盖部被倾斜装置的把持单元限制;
所述倾斜装置在所述卡盘台的上侧结合所述环形盖部;
所述卡盘台的卡盘模块限制所述环形盖部;
所述把持单元解除对所述环形盖部的限制;以及
所述倾斜装置向所述卡盘台的外侧移动。
4.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
所述喷射吸入臂模块向所述晶圆部喷射处理液,所述喷射吸入臂模块从处理液吸入异物的步骤包括如下的步骤:
所述喷射吸入臂模块向所述晶圆部的上侧移动;
所述喷射吸入臂模块在设定角度范围内摆动并向所述晶圆部喷射处理液;以及
所述喷射吸入臂模块在固定范围内吸入异物。
5.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
从所述卡盘台卸载所述环形盖部的步骤包括如下的步骤:
倾斜装置进行旋转而位于所述环形盖部的上侧;
所述倾斜装置的把持单元限制所述环形盖部;
所述卡盘台的卡盘模块解除对所述环形盖部的限制;
所述倾斜装置使所述环形盖部旋转来使所述环形盖部向所述卡盘台的外侧移动。
6.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
所述喷射臂模块向所述晶圆部喷射清洗液来清洗所述晶圆部的步骤包括如下的步骤:
所述喷射臂模块向所述晶圆部的上侧移动;以及
所述喷射臂模块在设定角度范围内摆动并向所述晶圆部喷射清洗液来最终清洗所述晶圆部。
7.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
在从所述卡盘台卸载所述环形盖部的步骤之前,还包括所述喷射臂模块向所述晶圆部喷射清洗液来中间清洗所述晶圆部的步骤。
8.根据权利要求7所述的基板处理方法,其特征在于,
所述喷射臂模块向所述晶圆部喷射清洗液来中间清洗所述晶圆部的步骤包括如下的步骤:
所述喷射吸入臂模块向所述晶圆部的外侧移动;
所述喷射臂模块向所述晶圆部的上侧移动;以及
所述喷射臂模块在设定角度范围内摆动并向所述晶圆部喷射清洗液。
9.根据权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
在所述喷射臂模块向所述晶圆部喷射清洗液来中间清洗所述晶圆部的步骤之后,还包括在所述卡盘台中第一次干燥所述晶圆部的步骤。
10.根据权利要求9所述的基板处理方法,其特征在于,
在所述喷射臂模块向所述晶圆部喷射清洗液来清洗所述晶圆部的步骤之后,还包括在所述卡盘台中第二次干燥所述晶圆部的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杰宜斯科技有限公司,未经杰宜斯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210763589.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造