[发明专利]平整度测量装置

权利要求书

1.一种平整度测量装置，其特征在于，包括：基座、X轴平移组件、Y轴平移组件、Z轴平移组件、若干个载物架、激光测距仪；

其中，所述Y轴平移组件设于所述基座，所述X轴平移组件与所述Y轴平移组件连接，所述Z轴平移组件与所述X轴平移组件连接，所述载物架与所述Z轴平移组件连接且所述载物架具有平行于X-Y平面的上表面和下表面，所述激光测距仪设于所述基座且所述激光测距仪的激光发射方向竖直向上；

在测量时，待测对象的待测表面搭接于所述载物架的上表面，所述X轴平移组件和所述Y轴平移组件能够带动所述载物架和所述待测对象在覆盖所述激光测距仪的X-Y平面内移动，所述Z轴平移组件能够带动所述载物架和所述待测对象在Z轴方向移动。

2.根据权利要求1所述的平整度测量装置，其特征在于，所述载物架包括：

安装部，与所述Z轴平移组件连接；以及

搭接部，与所述安装部连接，且具有平行于X-Y平面的上表面和下表面。

3.根据权利要求2所述的平整度测量装置，其特征在于，所述载物架还包括第一限位部，所述第一限位部连接于所述搭接部的Y轴端部，且所述第一限位部具有在Z轴方向的延伸距离；所述载物架还包括缓冲垫，所述缓冲垫设于所述第一限位部在Z轴方向的延伸侧面。

4.根据权利要求2所述的平整度测量装置，其特征在于，所述载物架设有多个，首端的所述载物架和末端的所述载物架均还包括第二限位部，所述第二限位部连接于所述搭接部背离相邻所述载物架的X轴端部，且所述第二限位部具有在Z轴方向的延伸距离。

5.根据权利要求2所述的平整度测量装置，其特征在于，所述安装部背离所述搭接部的上表面，所述载物架还包括设于所述安装部与所述搭接部之间的加强肋。

6.根据权利要求1至5任一项所述平整度测量装置，其特征在于，所述载物架设有多个，所述Z轴平移组件包括：

多个Z轴滑座，均与所述X轴平移组件移动配合，且与多个所述载物架对应连接；以及

多个Z轴驱动结构，与多个所述Z轴滑座对应配合；

其中，所述Z轴驱动结构带动所述Z轴滑座在Z轴方向上移动，以使多个所述载物架位于同一X-Y平面。

7.根据权利要求6所述的平整度测量装置，其特征在于，所述X轴平移组件包括：

X轴滑轨，与所述Y轴平移组件移动配合；

多个X轴滑座，均与所述X轴滑轨移动配合，且与多个所述Z轴滑座对应连接；以及

若干个X轴驱动结构，与多个所述X轴滑座对应配合；

其中，所述X轴驱动结构带动所述X轴滑座在X轴方向上移动，以使多个所述载物架构成X轴方向的不同覆盖范围。

8.根据权利要求7所述的平整度测量装置，其特征在于，所述X轴驱动结构设有一个且与其中之一的所述X轴滑座配合，每个所述X轴滑座均开设有固定孔，所述X轴平移组件还包括：

固定架，开设有沿X轴方向延伸的限位槽；以及

多个第一紧固件，对应地穿设在所述限位槽和所述固定孔内，使得多个所述X轴滑座连接并同步移动，并且，通过调整所述第一紧固件相对于所述限位槽的位置，以使多个所述载物架构成X轴方向的不同覆盖范围。

9.根据权利要求6所述的平整度测量装置，其特征在于，所述Z轴滑座开设有调整区，所述载物架适配地连接至所述调整区的不同位置，以使多个所述载物架位于同一X-Y平面，且以使多个所述载物架构成X轴方向的不同覆盖范围。

10.根据权利要求9所述的平整度测量装置，其特征在于，所述调整区为多个阵列分布的调整孔，所述载物架通过第二紧固件适配地连接至不同的所述调整孔；或者，所述调整区为网格状分布的调整槽，所述载物架通过第三紧固件适配地连接至所述调整槽的不同位置。