[发明专利]一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统

权利要求书

1.一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法，其特征在于，包括：

步骤1、对由装备系统的所有故障模式以及所有测试组成的故障-测试相关性矩阵进行第一优化以实现系统测试性代价最低，得到第一故障-测试相关性矩阵；所述测试为对装备系统的故障模式进行的测试；

步骤2、从所述第一故障-测试相关性矩阵中获得第一故障模式集和第一测试集；

步骤3、从所述第一故障模式集中删除故障率最高的故障模式，得到第二故障模式集，并将所述故障率最高的故障模式添加到BIT级故障模式集中，得到第一BIT级故障模式集；从所述第一测试集中删除与所述故障率最高的故障模式相关的测试，得到第二测试集，并将所述与所述故障率最高的故障模式相关的测试添加到BIT级测试集中，得到第一BIT级测试集；

步骤4、根据所述第一BIT级故障模式集和所述第一BIT测试集获得故障-机内测试相关性矩阵，记为第一F-BIT矩阵；

步骤5、对所述第一F-BIT矩阵进行第二优化以实现BIT级故障检测率和BIT级故障隔离率最大，得到第二F-BIT矩阵；

步骤6、从所述第二故障模式集中取出故障率最高的故障模式添加到第一BIT级故障模式集，得到第二BIT级故障模式集；并从所述第二测试集中取出与所述故障率最高的故障模式相关的测试添加到第一BIT测试集，得到第二BIT测试集；

步骤7、根据第二BIT级故障模式集和第二BIT测试集获得第三F-BIT矩阵；

步骤8、判断所述第三F-BIT矩阵是否满足BIT故障模式的测试设备重量和可靠度均符合预设要求，若是，则令所述第三F-BIT矩阵为第一F-BIT矩阵，并返回步骤5；若否，则将所述第二F-BIT矩阵作为最优F-BIT矩阵；

步骤9、根据所述最优F-BIT矩阵获得最优的BIT级故障模式集和最优的BIT级测试集，所述最优的BIT级测试集中的测试与所述最优的BIT级故障模式集中的故障模式对应；

步骤10、从所述第一故障模式集中删除所述最优的BIT级故障模式集，得到ITE级故障模式集，并根据所述ITE级故障模式集从所述第一测试集中选取测试组成ITE级测试集；

步骤11、根据所述ITE级故障模式集和所述ITE级测试集获得故障-综合测试相关性矩阵，记为第一F-ITE矩阵；

步骤12、对所述第一F-ITE矩阵进行第三优化以实现ITE级测试成本最小，得到第二F-ITE矩阵；

步骤13、根据所述第二F-ITE矩阵，得到最优的ITE级故障模式集和最优的ITE级测试集，所述最优的ITE级测试集中的测试与所述最优的ITE级故障模式集中的故障模式对应。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述故障-测试相关性矩阵的获取方法包括：

通过多信号流图建立测试性模型；所述测试性模型包括故障模式集和测试集；所述故障模式集包含装备系统的所有故障，所述测试集包含装备系统的所有测试；

利用布尔矩阵表示所述测试性模型中每一所述故障模式和每一所述测试之间的相关性，得到故障-测试相关性矩阵。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一优化的优化目标为系统测试性代价最低，约束条件为系统的故障检测率和系统的故障隔离率分别满足系统要求达到的故障检测率下限和故障隔离率下限。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二优化的优化目标为BIT级故障检测率和BIT级故障隔离率最高，约束条件为BIT故障模式的测试设备的重量和可靠度均符合预设要求。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第三优化的优化目标为ITE测试代价最低，约束条件为ITE级故障检测率和ITE级故障隔离率分别满足计算所得的ITE级故障检测率下限和ITE级故障隔离率下限。