[发明专利]红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202210784590.6 申请日: 2022-06-29
公开(公告)号: CN115165123A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 胡长德;海书亮;刘强;毛南平;李子杨;朱荣臻;刘婕;温歆;常晓茹 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校
主分类号: G01J5/90 分类号: G01J5/90;G06K9/62;G06F17/10;G06F17/18
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 陈亚斌;关兆辉
地址: 102299*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 红外探测器 性能 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种红外探测器性能测试方法,其特征在于,包括:

获取第一信息和第二信息,所述第一信息包括红外探测器获取的图像信息,所述第二信息包括所述红外探测器的测量数据信息;

将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算,得到至少一个红外探测器的指标数据平均值;

将至少一个所述红外探测器的指标数据平均值发送至关联分析模块进行分析,并基于分析得到的关联度值确定所述红外探测器性能评分。

2.根据权利要求1所述的红外探测器性能测试方法,其特征在于,将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算,得到至少一个红外探测器的指标数据平均值,包括:

将所述第二信息按照红外探测器响应率计算公式进行计算,确定红外探测器的响应率值;

将所述第一信息和第二信息按照红外探测器的迟滞性计算公式进行计算,确定红外探测器的迟滞性值;

将所述第一信息和第二信息按照红外探测器的重复性计算公式进行计算,确定红外探测器的重复性值;

基于至少两个时间点的第一信息和第二信息计算红外探测器的响应率值、迟滞性值和重复性值,得到第三信息,所述第三信息包括至少两个红外探测器的响应率值、至少两个迟滞性值和至少两个重复性值;

基于所述第三信息和预设的邻域参数进行聚类处理,其中通过计算每个点的欧式距离,确定所有的核心参数,并按照预设的邻域参数确定每个核心参数周围的邻域大小,进而得到至少两个聚类簇,计算每个聚类簇集合的平均值,得到第四信息,所述第四信息为红外探测器的响应率平均值、迟滞性平均值和重复性平均值。

3.根据权利要求2所述的红外探测器性能测试方法,其特征在于,将所述第二信息按照红外探测器响应率计算公式进行计算,确定红外探测器的响应率值,包括:

调用第二信息内的红外探测器口径信息、黑体面积信息、至少一个时刻的红外探测器辐射功率信息和至少一个时刻的红外探测器输出电压值信息;

基于第二信息内的红外探测器口径信息和黑体面积信息进行相除计算,得到第二信息内红外探测器口径信息和黑体面积信息的比值;

基于至少一个时刻的所述红外探测器辐射功率信息和至少一个时刻的所述红外探测器输出电压值信息进行方差计算,得到每个时刻红外探测器辐射功率的方差值和每个时刻红外探测器输出电压值的方差值,并基于响应率计算公式和第二信息内红外探测器口径信息和黑体面积信息的比值计算得到所述红外探测器的响应率值。

4.根据权利要求2所述的红外探测器性能测试方法,其特征在于,将所述第一信息和第二信息按照红外探测器的迟滞性计算公式进行计算,确定红外探测器的迟滞性值,包括:

调用所述第一信息内的至少一个时刻的图像信息和所述第二信息内的至少一个时刻的黑体温度信息;

将所述第一信息内的至少一个时刻的图像信息均分别转化为灰度图像,并将所述灰度图像的灰度值进行记录,得到每个时刻的图像对应的灰度值;

将每个时刻的所述黑体温度信息和每个时刻的所述图像对应的灰度值进映射标记,得到黑体温度在上升和下降时的灰度值变化曲线;

基于所述黑体温度在上升和下降时的灰度值变化曲线和红外探测器的迟滞性计算公式计算得到红外探测器的迟滞性值。

5.一种红外探测器性能测试装置,其特征在于,包括:

第一获取单元,用于获取第一信息和第二信息,所述第一信息包括红外探测器获取的图像信息,所述第二信息包括所述红外探测器的测量数据信息;

第一处理单元,用于将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算,得到至少一个红外探测器的指标数据平均值;

第二处理单元,用于将至少一个所述红外探测器的指标数据平均值发送至关联分析模块进行分析,并基于分析得到的关联度值确定所述红外探测器性能评分。

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