[发明专利]一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统

说明书

本发明涉及Gamma调节领域，且公开了一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统，包括上位机、探头、数据采集模块、数据分析模块、数据计算模块、显示模块、调整模块，上位机的输出端连接探头的输入端，探头的输出端连接数据采集模块的输入端，数据采集模块的输出端连接数据分析模块的输入端，数据分析模块的输出端连接数据计算模块的输入端，数据计算模块的输出端连接显示模块的输入端，显示模块的输出端连接调整模块的输入端，在数据的采集、存储、分析、计算中，不断的预测最优的RGB的电阻起始值，同时根据“锁策略”，减少变量个数，使算法调试具有方向性，使GAMMA调试次数变少，缩短单次调试时间、大大提高生产效率。

技术领域

本发明涉及Gamma调节领域，具体为一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统。

背景技术

随着社会的发展，电子产品的不断普及，国内外各大企业都在不断加强对OLED技术的研究，OLED技术进一步得到提高完善。OLED作为LCD后发展最有潜力的新兴显示技术，在商业、电子产品、VR、交通和工业等领域都占据很大的市场地位。由于人眼可识别的亮度与实际亮度呈非线性的关系，所以为了使OLED模组显示效果更符合人眼视觉曲线，就需要对模组做gamma进行测试调整，目前国内外检测设备厂商开发的GAMMA装置和方法主要针对LCD屏，且普遍存在调节速度慢、调节效果欠佳的问题，影响OLED模组厂商批量生产的效率和产品质，为此我们提出了一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统，解决了上述的问题。

(二)技术方案

为实现上述所述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统，包括上位机、探头、数据采集模块、数据分析模块、数据计算模块、显示模块、调整模块，所述上位机的输出端连接探头的输入端，所述探头的输出端连接数据采集模块的输入端，所述数据采集模块的输出端连接数据分析模块的输入端，所述数据分析模块的输出端连接数据计算模块的输入端，所述数据计算模块的输出端连接显示模块的输入端，所述显示模块的输出端连接调整模块的输入端，上位机控制探头采集数据，通过探头输入到数据采集模块中，对数据进行采集，存入存储模块中，然后通过数据分析模块对数据采集模块采集后的信息进行分析，分析完成之后，通过数据计算模块对数据进行计算，显示模块将计算后的数据进行显示，然后通过调整模块进行调整，在数据的采集、存储、分析、计算中，不断的预测最优的RGB的电阻起始值，同时根据“锁策略”，减少变量个数，使算法调试具有方向性，使GAMMA调试次数变少，缩短单次调试时间、大大提高生产效率。

优选的，所述数据采集模块的输出端连接有存储模块，数据采集模块将采集后的数据传输到存储模块的内部，然后对数据进行存储。

优选的，所述存储模块的输出端与上位机的输入端连接，通过上位机能够随时调研查看到存储模块内部的信息。

优选的，所述数据分析模块包括数据输入模块、数据验证模块、数据加码模块以及数据输出模块，所述数据输入模块的输出端连接数据验证模块的输入端，所述数据验证模块的输出端连接数据加码模块的输入端，所述数据输出模块的输出端连接数据接收模块的输入端，所述数据解码模块的输出端连接数据带入模块的输入端。

优选的，所述数据输入模块的输入端连接到数据采集模块的输出端连接，所述数据输出模块的输出端与数据计算模块的输入端连接，数据输入模块将信息输入到数据验证模块内部，对数据进行验证，验证完成之后，将验证完成之后的数据传输到数据加码模块中，数据加码模块对数据进行加码，然后传输到数据输出模块中。