[发明专利]一种硅基二维氮化镓及其范德华外延制备方法、应用在审
申请号: | 202210799338.2 | 申请日: | 2022-07-06 |
公开(公告)号: | CN115295397A | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 何军;程瑞清;尹蕾;文耀;姜健 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C30B25/18;C30B29/40 |
代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 李景 |
地址: | 430072*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二维 氮化 及其 范德华 外延 制备 方法 应用 | ||
1.一种硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,包括:以镓金属或氧化镓作为镓源,以尿素作为氮源,以表面带有范德华材料的硅片作为生长基底,利用气相沉积法制备得到硅基二维氮化镓材料。
2.根据权利要求1所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:
在硅片A的表面制备范德华材料,得到硅片-范德华材料复合基底;
将镓源压印在硅片B的表面,得到金属镓膜,静置,形成氧化镓膜;
将硅片-范德华材料复合基底倒扣在氧化镓膜的上方,之后共同放置在双温区管式炉的后温区,将氮源置于双温区管式炉的前温区,在氢气-氩气的混合氛围中加热反应,反应结束后冷却,即得到硅基二维氮化镓材料。
3.根据权利要求1或2所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,所述范德华材料选用云母、氮化硼或石墨的任一种。
4.根据权利要求2所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,双温区管式炉前温区的温度设置为130-180℃,双温区管式炉后温区的温度设置为800-1050℃。
5.根据权利要求2所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,范德华材料的厚度为0.3-100nm。
6.根据权利要求2所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,氢气的流量为10-50sccm,氩气的流量为40-200sccm。
7.根据权利要求2所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,硅片-范德华材料复合基底与氧化镓膜之间间隔0.3-3mm。
8.根据权利要求2所述的硅基二维氮化镓的范德华外延制备方法,其特征在于,采用机械剥离法或气相沉积法在硅片A的表面制备范德华材料。
9.一种硅基二维氮化镓,其特征在于,利用权利要求1-2任一项所述的制备方法制得。
10.权利要求9所述硅基二维氮化镓的应用,其特征在于,所述硅基二维氮化镓用于制备光电探测器。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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