[发明专利]TO半导体激光器模组镜座检测修正装置及检测修正方法

权利要求书

1.TO半导体激光器模组镜座检测修正装置，包括机柜(1)、锁紧机构(2)、取料机构(3)、载料机构(4)、出料机构(5)、修正机构(6)、精磨机构(7)、检测机构(8)等结构组成，所述机柜(1)位于装置最下端，机柜(1)后端中间上侧设有取料机构(3)和载料机构(4)，其特征在于：所述载料机构(4)上端设有载料导轨(10)，载料导轨(10)两端设有传感器(11)，载料导轨(10)下端设有出料口Ⅰ(12)，所述取料机构(3)位于载料机构(4)下端，取料机构(3)一端设有取料气缸(13)，取料气缸(13)一侧设有连接块(16)，连接块(16)一端设有取料头(18)，取料头(18)上端设有挡料板(17)，挡料板(17)上端设有固定板(14)，固定板(14)一端设有出料口Ⅱ(15)，所述机柜(1)上端一侧设有锁紧机构(2)，锁紧机构(2)一端设有锁紧气缸(23)，锁紧气缸(23)一侧设有滑轨(25)，滑轨(25)上端设有电机Ⅱ(24)，电机Ⅱ(24)一侧设有锁紧销(26)，锁紧销(26)前端设有定位柱Ⅰ(27)，所述精磨机构(7)位于锁紧机构(2)一侧，精磨机构(7)上端设有电机Ⅰ(28)，电机Ⅰ(28)一侧设有精磨头(29)，精磨头(29)一侧设有定位柱Ⅱ(30)，所述电机Ⅰ(28)一侧设有推料机构，推料机构由推料气缸(35)、推料板(36)和推料头(37)组成，推料气缸(35)一侧设有推料板(36)，推料扳上设有推料头(37)，所述检测机构(8)位于精磨机构(7)上端，检测机构(8)下端设有固定架(19)，固定架(19)上端设有检测气缸(20)，检测气缸(20)下端设有升降块(21)，升降块(21)下端设有检测头(22)，所述修正机构(6)位于机柜(1)中间前端，修正机构(6)下端设有Y轴气缸(31)，Y轴气缸(31)上端设有X轴气缸(32)，X轴气缸(32)一端设有修正块(33)，修正块(33)上设有修正刀(34)，所述出料机构(5)位于修正机构(6)一侧。

2.根据权利要求1所述的TO半导体激光器模组镜座检测修正装置，其特征在于：机柜(1)内设有装置控制系统，载料机构(4)用于放置待检测修正的镜座(9)，取料机构(3)用于自动取放镜座(9)。

3.根据权利要求1所述的TO半导体激光器模组镜座检测修正装置，其特征在于：载料导轨(10)内侧宽度尺寸与镜座(9)的厚度尺寸相适应，载料导轨(10)与取料机构(3)固定板(14)呈倾斜结构，其倾斜角度为30度-60度，该结构设计可以使镜座(9)利用自身的重力，从载料导轨(10)上端移动到载料导轨(10)下端，传感器(11)用于检测镜座(9)在载料导轨(10)内的状态，载料导轨(10)下端设有出料口Ⅰ(12)，出料口Ⅰ(12)用于将镜座(9)由载料机构(4)滑入取料机构(3)，出料口Ⅰ(12)的尺寸大于镜座(9)的尺寸。

4.根据权利要求1所述的TO半导体激光器模组镜座检测修正装置，其特征在于：所述取料机构(3)位于载料机构(4)下端，取料机构(3)一端设有取料气缸(13)，取料气缸(13)一侧设有连接块(16)，连接块(16)一端设有取料头(18)，取料头(18)呈半圆形结构，取料头(18)上端设有挡料板(17)，挡料板(17)上端设有固定板(14)，固定板(14)一端设有出料口Ⅱ(15)。

5.根据权利要求1所述的TO半导体激光器模组镜座检测修正装置，其特征在于：所述机柜(1)上端一侧设有锁紧机构(2)，锁紧机构(2)用于将镜座(9)进行固定和定位，锁紧机构(2)一端设有锁紧气缸(23)，锁紧气缸(23)一侧设有滑轨(25)，滑轨(25)上端设有电机Ⅱ(24)，电机Ⅱ(24)一侧设有锁紧销(26)，锁紧销(26)前端设有定位柱Ⅰ(27)，定位柱Ⅰ(27)的尺寸与镜座(9)圆孔Ⅰ(40)的尺寸相适应，在进行镜座(9)修正时，锁紧气缸(23)推动电机Ⅱ(24)向前移动，使锁紧销(26)的定位柱Ⅰ(27)插入到镜座(9)圆孔Ⅰ(40)内，精磨头(29)的定位柱Ⅱ(30)插入到圆孔Ⅱ(41)内，将镜座(9)进行精确定位和固定。