[发明专利]环规检测仪在审
申请号: | 202210812259.0 | 申请日: | 2022-07-11 |
公开(公告)号: | CN115183645A | 公开(公告)日: | 2022-10-14 |
发明(设计)人: | 房妤;张玉辉 | 申请(专利权)人: | 房妤;张玉辉 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 李红 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 | ||
本发明涉及螺纹检测技术领域,公开了一种环规检测仪,包括千分表,还包括:底座,竖直开设有一对相互平行的安装孔;一对滑动轴,每一滑动轴的嵌入端嵌入安装在对应的安装孔内;浮动座,活动套装在一对滑动轴上,能够沿每一滑动轴的延伸方向上下移动;量爪,包括固定爪和活动爪,量爪具有收缩状态以及展开状态,浮动座带动活动爪沿滑动轴的延伸方向移动能够调整量爪在收缩状态和展开状态之间转换;顶板,安装在一对滑动轴的裸露端的端头,千分表可拆卸安装在顶板上,在量爪处于展开状态下,千分表的检测头与浮动座抵接。该环规检测仪,解决了环规内螺纹检测过程中因待检测内螺纹直径不同需要准备多个尺寸的塞规进行检测而导致的生产成本高的问题。
技术领域
本发明涉及螺纹检测技术领域,具体地,涉及一种用于检测环规内螺纹的环规检测仪。
背景技术
内螺纹攻牙加工的过程会发生异常状况,在攻牙时产生的料屑有时会依附在螺纹攻牙器上并一同进行高速旋转,依附的料屑破坏螺纹原有的结构,最常见的瑕疵如:螺纹坡的刮痕、螺峰的崩塌与螺谷的裂痕。一般而言,螺纹坡的刮痕为凸起状瑕疵,会造成内、外螺纹无法顺利旋入和旋出;而螺峰或螺谷的崩塌或裂痕为凹陷状瑕疵,是造成内、外螺纹旋入后出现无法密合或松动的主因。由于内螺纹特殊的结构与空间位置的限制,目前螺纹塞规除传统接触式检测固有的缺点外,仅能检测出凸起状瑕疵,而无法检测凹陷状瑕疵。
目前内螺纹非接触式检测法共有四种:①光反射法,利用发射器将光束照射在螺纹上,再以接收器收集物件表面的反射光线并将信息转换成量测值,以检查孔内螺纹特征;②漏磁检测法,由磁场探测加工过的管壁内的螺纹,由磁场的变化检测出缺陷位置;③涡电流检测法,以涡流电磁感应比对孔壁电场的几何形状,侦测螺纹缺陷;④工业用电脑横向断层摄影法,通过断层扫描技术,取得螺纹物件在不同角度上的断层扫描图,以测量螺纹的特征。上述方法中,光反射法每次仅能针对其小部分的螺纹进行检查,且容易受到物件表面的液体或油渍的影响,降低侦测能力;漏磁检测法与涡电流检测法仅能透过磁场或涡电流的变化,粗略地判别缺陷的存在与否、或缺陷的大致分布位置,仅适用于由金属材质铸造的待测物件;断层摄影法存在设备费用高昂的经济性问题,不符合经济效益。而塞规检测内螺纹需要根据待检测零件的内螺纹直径准备相应尺寸的塞规,在螺距相同、导程相同以及牙数相同的情况下内螺纹直径尺寸众多,为了检测不同直径的环规内螺纹需要准备多个塞规,这样增加了塞规的存储量提高了生产成本,同时也不方便使用。
因此,亟需一种内螺纹检测装置以解决上述至少一种问题。
发明内容
本发明实施方式的目的是提供一种环规检测仪以解决目前环规内螺纹检测过程中因同一螺距、导程和牙数的待检测内螺纹直径不同需要准备多个尺寸的塞规进行检测而造成的生产成本提高的问题。
为了实现上述目的,本发明提供一种环规检测仪,包括千分表,所述环规检测仪还包括:
底座,竖直开设有一对相互平行的安装孔;
一对滑动轴,每一滑动轴具有嵌入端和裸露端,每一滑动轴的嵌入端嵌入安装在对应的安装孔内;
浮动座,活动套装在所述一对滑动轴上,能够沿每一滑动轴的延伸方向上下移动;
量爪,用于检测环规内螺纹,所述量爪包括固定爪和活动爪,所述固定爪设置在所述底座上,所述活动爪设置在所述浮动座上,所述量爪具有所述活动爪与所述固定爪贴合的收缩状态以及所述活动爪远离所述固定爪给定距离的展开状态,所述浮动座带动所述活动爪沿所述滑动轴的延伸方向移动能够调整所述量爪在收缩状态和展开状态之间转换;
顶板,安装在所述一对滑动轴的裸露端的端头,所述千分表可拆卸安装在所述顶板上,在所述量爪处于展开状态下,所述千分表的检测头与所述浮动座抵接。
具体地,所述环规检测仪还包括:一对复位弹簧,每一所述滑动轴上套装一个复位弹簧且设置在所述底座与所述浮动座之间。
具体地,所述滑动轴为滚珠花键轴;
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