[发明专利]一种待测模型的圆柱面定位方法及抓取方法

权利要求书

1.一种待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，包括：

获取待测模型上的点云数据，所述点云数据包括多个点的点参数；

从所述点云数据中选择一个处于指定圆柱面上的点作为选择点；

获得所述选择点和所述选择点附近的多个相邻点的点参数；

基于选择点和多个所述相邻点的点参数获得多个圆柱模型；

遍历所有所述圆柱模型，将所述点云数据中的所有点带入当前所述圆柱模型中，符合所述当前圆柱模型的点作为符合点，记录所述符合点的个数，获得每个圆柱模型和对应的符合点数量的关系；

判断符合点数量最多的所述圆柱模型的定位数据是所述指定圆柱面所在的圆柱模型的定位数据。

2.如权利要求1所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，所述点参数包括点的坐标和法线方向；

所述获取待测模型上的点云数据，包括：

通过深度相机采集所述待测模型的深度图像；

基于深度图像通过深度相机的内参计算所有点的坐标；

对每个点根据其相邻点求取所述点的法线方向。

3.如权利要求2所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，所述基于深度图像通过深度相机的内参计算所有点的坐标，对每个点根据其相邻点求取所述点的法线方向，包括：

在GPU中为所述深度图中的每个待测点创造一个线程，每个线程计算一个所述待测点的点参数，多个所述待测点及其点参数作为点云数据中的点及其点参数。

4.如权利要求1所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于：所述基于选择点和多个所述相邻点的点参数获得多个圆柱模型，包括：

获得圆柱模型：基于选择点的法线方向和其中一个所述相邻点的法线方向获得圆柱模型的中轴线；基于选择点和所述中轴线获得所述圆柱模型的圆柱半径；基于所述中轴线和所述圆柱半径获得所述圆柱模型；

基于所述获得圆柱模型的步骤，获得每个所述相邻点对应的圆柱模型。

5.如权利要求4所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，所述获得圆柱模型的步骤之后，还验证所述圆柱模型是否正确。

6.如权利要求5所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于：所述验证所述圆柱模型是否正确，包括：

求取另一所述相邻点到所述圆柱模型的中轴线的距离是否等于所述圆柱模型的圆柱半径，若否，抛弃所述圆柱模型，执行下一个圆柱模型的计算。

7.如权利要求1所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，所述将所述点云数据中的所有点带入当前所述圆柱模型中，符合所述当前圆柱模型的点作为符合点，包括：

将所述点云数据中的所有点带入当前所述圆柱模型中，若当前点到当前圆柱模型的中轴线的距离等于所述当前圆柱模型的半径，则所述当前点是符合点。

8.如权利要求7所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，所述将所述点云数据中的所有点带入当前所述圆柱模型中，符合所述当前圆柱模型的点作为符合点，还包括：

为所述点云数据中的每个点在GPU中开启一个线程，每个所述线程判断一个所述点是否符合所述当前圆柱模型。

9.如权利要求3所述的待测模型的圆柱面定位方法，其特征在于，判断符合点数量最多的所述圆柱模型是所述指定圆柱面所在的圆柱模型，还执行：

将满足所述圆柱面所在的圆柱模型的符合点染为统一色。

10.一种圆柱面抓取方法，其特征在于，基于权利要求1-9任意一项所述的待测模型的圆柱面定位方法，获得所述指定圆柱面所在的圆柱模型的定位数据，基于所述指定圆柱面所在的圆柱模型的定位数据，通过抓取装置抓取圆柱面。