[发明专利]基于双芯光纤制成的光压测定装置和方法有效

专利信息
申请号: 202210839685.3 申请日: 2022-07-18
公开(公告)号: CN115219025B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 崔晓军;赵际帅;彭峰;吴冰;张国煜;李坤;孙永杰;尹艾琳;许文言;袁亚楠 申请(专利权)人: 济南大学
主分类号: G01J1/56 分类号: G01J1/56;G01L1/24
代理公司: 南京思宸知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32548 代理人: 柏梦婷
地址: 250022 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 基于 光纤 制成 光压 测定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于双芯光纤制成的光压测定装置,包括窄线宽光源(1)、单芯光纤一(2A)、光纤耦合器一(3A)、单芯光纤二(2B)、光纤耦合器二(3B)、双芯光纤(4)、支架(5)、反射镜(6)、信号处理模块(7)、数据线(8)以及控制显示系统(9),其特征在于,

所述窄线宽光源(1)与所述单芯光纤一(2A)连接,所述单芯光纤一(2A)通过所述光纤耦合器一(3A)与所述双芯光纤(4)的一端连接;

所述双芯光纤(4)的另一端通过所述光纤耦合器二(3B)与所述单芯光纤二(2B)连接,所述单芯光纤二(2B)与所述信号处理模块(7)连接,所述信号处理模块(7)通过所述数据线(8)与所述控制显示系统(9)连接;

所述双芯光纤(4)呈若干个线条且平行分布在所述反射镜(6)背面,所述反射镜(6)固定安装在所述支架(5)上,所述支架(5)包括底座(51)、压板(52)、光纤压片(53)、下坡面(54)和上坡面(55),所述下坡面(54)和所述上坡面(55)对称分布在所述底座(51)相对两侧的外壁,所述双芯光纤(4)位于所述压板(52)与所述底座(51)之间、通过光纤压片(53)固定;所述双芯光纤(4)由所述下坡面(54)经过所述反射镜(6),再经过上坡面(55)绕回,依次顺序排列;所述双芯光纤(4)内并排设有纤芯一(401)和纤芯二(402),且所述纤芯一(401)和所述纤芯二(402)的共同子午面均与所述反射镜(6)垂直。

2.根据权利要求1所述的基于双芯光纤制成的光压测定装置,其特征在于,所述支架(5)为方形结构铝合金框架。

3.根据权利要求1所述的基于双芯光纤制成的光压测定装置,其特征在于,所述光纤耦合器一(3A)和所述光纤耦合器二(3B)的分光比均为1:1。

4.根据权利要求1所述的基于双芯光纤制成的光压测定装置,其特征在于,所述双芯光纤(4)为单模双芯光纤,所述双芯光纤(4)通过环氧树脂胶固定在所述反射镜(6)的背面。

5.根据权利要求1所述的基于双芯光纤制成的光压测定装置,其特征在于,所述信号处理模块(7)包括光电转换、模数转换及干涉信号解调功能,所述控制显示系统(9)用于显示解调信号。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的基于双芯光纤制成的光压测定装置的方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

步骤一:窄线宽光源(1)输出的窄带激光经过单芯光纤一(2A)进入光纤耦合器一(3A),能量被光纤耦合器一(3A)分为两部分进入双芯光纤(4)内,具体为一半光能量进入纤芯一(401),另一半光能量进入纤芯二(402),分为两半的光能量分别在纤芯一(401)、纤芯二(402)传输后,进入到光纤耦合器二(3B),两部分激光能量合为一束发生干涉,干涉信号通过单芯光纤二(2B)传输到信号处理模块(7);

步骤二:反射镜(6)受到待测激光照射发生形变,引起其背面平行排布的双芯光纤(4)产生形变,此时纤芯一(401)和纤芯二(402)的排列方向与形变方向一致,导致两个纤芯的形变不一致,使得两个纤芯中所传输的激光光程不一致,进而使两部分光能量在光纤耦合器二(3B)处合为一束时产生的激光干涉信号强度发生变化;

步骤三:通过上一步骤中测得的光纤耦合器二(3B)处激光干涉信号强度,可以计算出双芯光纤(4)中纤芯一(401)、纤芯二(402)中各自传输的激光光程的差值变化数据,经过换算可得到待测激光在反射镜(6)上施加的压力,即光压。

7.根据权利要求6所述的基于双芯光纤制成的光压测定装置的方法,其特征在于,所述步骤三中,纤芯一(401)和纤芯二(402)中传输的光在光纤耦合器二(3B)中发生干涉,干涉信号通过单芯光纤二(2B)传输到信号处理模块(7),最终通过数据线(8)传输至控制显示系统(9)上显示。

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