[发明专利]防错自动测试方法和防错自动测试系统

权利要求书

1.一种防错自动测试方法，其特征在于，包括：

S1、为每个测试产品生成条形码并基于全部的所述条形码构造产品计划数据表，为全部的测试工装生成测试工装数据表，基于每个测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表；

S2、在每个测试工装的非易失性存储电路中写入所述测试工装的测试工装型号；

S3、开启待使用的所述测试工装的测试程序以上电所述测试工装的所述非易失性存储电路以获取所述测试工装的测试工装型号，扫描一个待测试的测试产品的条形码，并基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成第一防错请求指令；

S4、基于所述产品测试程序、工装数据表和所述测试工装数据表以及所述第一防错请求指令判断所述测试程序、版本号是否正确以及所述测试工装型号对应的测试工具是否满足要求，如果是执行步骤S5，否则返回错误信息并终止测试；

S5、放置扫描每个待测试的测试产品的条形码并基于所述条形码和所述产品计划数据表判断所述待测试的测试产品是否正确，如果是执行步骤S6，否则返回错误信息并终止测试；

S6、为测试电路上电并对所述测试产品进行测试。

2.根据权利要求1所述的防错自动测试方法，其特征在于，所述步骤S1进一步包括：

S11、为每个所述测试产品生成所述条形码，并基于所述条形码构造所述产品计划数据表；所述条形码包括生产日期、产品型号、硬件版本号和产品流水号，所述产品计划数据表包括所述条形码、所述生产日期、所述产品型号、所述硬件版本号和所述流水号；

S12、根据所述测试工装的型号、测试工具的型号以及使用次数生成所述测试工装数据表，所述测试工装数据表包括测试工装型号、工装编号，测试次数和使用次数限值；

S13、基于每个所述测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表，所述产品测试程序与工装数据表包括产品型号、测试程序名称、最新版本号和测试工装型号。

3.根据权利要求2所述的防错自动测试方法，其特征在于，在步骤S12中，初次录入时，将所述测试次数设置为0，且每次更换测试工具之后，将所述测试次数清零，所述测试工具包括测试探针或连接器。

4.根据权利要求2所述的防错自动测试方法，其特征在于，所述非易失性存储电路包括非易失性存储器、继电器、续流二级管、开关管、第一电阻和第二电阻；

所述开关管的控制端经所述第一电阻接收来自测试电路的测试控制信号、第一端接地、第二端连接所述续流二级管的阳极和所述继电器的第一端，所述续流二级管的阴极连接所述继电器的第二端和第一电源，所述第二电阻连接在所述开关管的控制端和地之间，所述继电器的第一触头连接第二电源、第一触点连接所述非易失性存储器的电源端、第二触头接地、第二触点连接所述非易失性存储器的接地端；

所述非易失性存储器基于所述测试控制信号上电或者下电，所述非易失性存储器仅上电时允许读写。

5.根据权利要求4所述的防错自动测试方法，其特征在于，所述非易失性存储器包括EEPROM、PROM、EPROM以及闪存。

6.根据权利要求2所述的防错自动测试方法，其特征在于，所述步骤S3进一步包括：

S31、开启待使用的所述测试工装的测试程序；

S32、所述测试程序控制所述测试工装的所述非易失性存储电路上电并读取所述测试工装型号，然后控制所述非易失性存储电路下电；

S33、扫描待测试的所述测试产品的所述条形码；

S34、基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成所述第一防错请求指令，所述第一防错请求指令包括所述条形码、测试程序名称、版本号、所述测试工装型号。