[发明专利]基于脉冲涡流的导体厚度检测方法在审
申请号: | 202210856347.0 | 申请日: | 2022-07-16 |
公开(公告)号: | CN115112008A | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
发明(设计)人: | 王浩文;付炜;黄江波;秦善强;张坚 | 申请(专利权)人: | 长江师范学院 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 重庆千石专利代理事务所(普通合伙) 50259 | 代理人: | 冷奇峰 |
地址: | 408100 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 脉冲 涡流 导体 厚度 检测 方法 | ||
1.一种基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:按照以下步骤进行:
步骤一:对N个已知厚度的标准导体试件,采用脉冲涡流检测仪进行检测,得到对应N个标准导体试件的感应电动势输出信号ε(t),其中,N为大于等于2的自然数;
步骤二:将步骤一得到的N个标准导体试件感应电动势输出信号ε(t)转换为基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t),并确定所有基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t)的暂态时间Ttr;
步骤三:根据N个标准导体试件的厚度和对应的基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t),拟合得到标准导体试件厚度与暂态时间Ttr的关系曲线;
步骤四:采用脉冲涡流检测仪测量得到待测导体试件的感应电动势输出信号,并将该待测导体试件的感应电动势输出信号转换为待测导体试件基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t),并确定待测导体试件基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t)的暂态时间Ttr;
步骤五:将步骤四得到的暂态时间Ttr代入步骤三得到的标准导体试件厚度与暂态时间Ttr的关系曲线中进行比对,得到待测导体试件的厚度。
2.根据权利要求1所述的基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:每个所述标准导体试件对应一个导体厚度;所述标准导体试件的导体厚度范围为1-100mm。
3.根据权利要求1所述的基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:所述标准导体试件和所述待测导体试件的材质为磁性金属。
4.根据权利要求1所述的基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:所述脉冲涡流检测仪包括脉冲电流发射机、检测探头、信号采集机,所述检测探头包括发射线圈和接收线圈,所述脉冲电流发射机的信号输出端与发射线圈连接,所述信号采集机的信号采集端与所述接收线圈连接,所述信号采集机的信号反馈端用于连接计算机。
5.根据权利要求1所述的基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:所述信号采集机采用弱磁耦合式传感器采集脉冲涡流的感应电动势;
所述弱磁耦合式传感器的功率范围为:36W至120W。
6.根据权利要求1所述的基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:步骤二中将标准导体试件感应电动势输出信号ε(t)转换为基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t)的转换公式为:
7.根据权利要求1或6所述的基于脉冲涡流的导体厚度检测方法,其特征在于:所述暂态时间Ttr为基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t)的增速在所述脉冲涡流检测仪产生的涡流扩散至导体试件1/2厚度后迅速降低至稳定数值时所对应的时刻;
所述暂态时间Ttr对应基于涡流衰减时间常数曲线τATC(t)的幅值为稳态值τ(Ttr)。
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