[发明专利]具有安装连接件的光检测和测距系统及其形成方法

权利要求书

1.一种包括安装结构中的透镜系统的安装连接件的光检测和测距系统，所述光检测和测距系统包括：

封装结构，所述封装结构包括光学窗口和所述安装结构，

安装在所述安装结构中的透镜系统，其中所述透镜系统根据所述光学窗口上或上方的预定义对准条件被布置在所述安装结构中；

所述安装连接件包括：

其中所述安装结构包括至少一个对准开口，并且所述透镜系统包括被配置成用于将所述透镜系统安装在所述安装结构中的安装轴，其中所述对准开口横向包围所述安装轴，所述安装轴与所述预定义对准条件下的安装轴至少部分隔开对准距离；以及

间隔件，所述间隔件被配置成用于至少部分跨越所述对准距离，其中所述安装轴通过将所述间隔件固定到所述安装结构的第一连接件以及通过将所述间隔件固定到所述安装轴的第二连接件在所述对准开口中的所述对准条件下固定。

2.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述第一连接件是第一焊接连接件，并且所述第二连接件是第二焊接连接件。

3.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述对准距离大于50μm。

4.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述安装轴沿所述透镜系统的光轴被布置。

5.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述第一连接件包括在关于所述安装轴的横向相对位置处的焊接连接件。

6.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述第二连接件包括在关于所述安装轴的横向相对位置处的焊接连接件。

7.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述间隔件包括环或垫圈的形状。

8.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述间隔件包括开口，其中所述安装轴被布置在所述开口中。

9.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，安装轴至少部分地与所述间隔件隔开第二距离。

10.如权利要求9所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述第二距离小于约50μm。

11.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述间隔件包括阶梯状或锥形形状，形成从所述安装结构的表面向所述安装轴的远端的阶梯状或锥形结构。

12.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述安装轴包括圆柱形状。

13.如权利要求1所述的光检测和测距系统，进一步包括被布置在所述封装结构中的光子集成电路，所述光子集成电路被配置成用于通过所述光学窗口向外部发射相干电磁辐射，并通过所述光子集成电路处的所述光学窗口从外部接收相干电磁辐射。

14.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述透镜系统包括被布置在壳体中的多个透镜。

15.如权利要求1所述的光检测和测距系统，

其特征在于，所述封装结构包括金盒。

16.一种包括各自根据权利要求1配置的第一安装连接件和第二安装连接件的光检测和测距系统，其中所述第一安装连接件的安装轴被耦合到所述透镜系统的第一侧，并且其中所述第二安装连接件的安装轴被耦合到所述透镜系统的第二侧，所述第二侧约垂直于所述透镜系统的所述第一侧。