[发明专利]一种天线阵列优化方法、装置、终端及存储介质

权利要求书

1.一种天线阵列优化方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待优化天线阵列，其中，所述待优化天线阵列为均匀平面阵列；

根据所述待优化天线阵列，确定若干目标天线，其中，若干所述目标天线均位于目标对数螺旋带；

根据若干所述目标天线，确定所述待优化天线阵列对应的目标天线阵列。

2.根据权利要求1所述的天线阵列优化方法，其特征在于，所述目标对数螺旋带包括两条斐波那契螺旋线，其中，两条所述斐波那契螺旋线关于目标点中心对称，所述目标点为所述待优化天线阵列对应的阵列区域的中心点。

3.根据权利要求2所述的天线阵列优化方法，其特征在于，所述根据所述待优化天线阵列，确定若干目标天线，包括：

将所述待优化天线阵列对应的阵列区域划分为若干网格，其中，每一所述网格均为边长为预设半波长的正方形；

根据若干所述网格和两条所述斐波那契螺旋线，确定若干所述目标天线，其中，每一所述目标天线均位于所述网格的端点与所述目标对数螺旋带的交点。

4.根据权利要求1所述的天线阵列优化方法，其特征在于，所述目标天线阵列对应的目标分辨率区间与所述待优化天线阵列对应的原始分辨率区间相同，其中，所述目标分辨率区间基于若干天线对分别对应的分辨率度数确定，若干所述天线对基于若干所述目标天线两两组合确定，所述原始分辨率区间基于所述待优化天线阵列对应的阵列尺寸确定。

5.根据权利要求4所述的天线阵列优化方法，其特征在于，每一所述天线对对应的所述分辨率度数包括第一分辨率度数和第二分辨率度数，其中，所述第一分辨率度数基于该天线对中两个所述目标天线分别对应的横坐标的差确定，所述第二分辨率度数基于该天线对中两个所述目标天线分别对应的纵坐标的差确定。

6.根据权利要求4所述的天线阵列优化方法，其特征在于，若干所述天线对分别对应的分辨率覆盖目标分辨率区间，且各所述天线对分别对应的所述分辨率的重合率最低。

7.根据权利要求1所述的天线阵列优化方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述目标天线阵列获取若干参考电子标签分别对应的第一空间谱和目标电子标签对应的第二空间谱，其中，若干所述参考电子标签分别对应的位置数据已知，所述目标电子标签位于待定位目标上；

根据各所述第一空间谱与所述第二空间谱进行比对，得到各所述第一空间谱分别对应的相似度；

根据各所述第一空间谱分别对应的所述相似度，确定若干目标参考电子标签；

根据若干所述目标参考电子标签分别对应的所述位置数据，确定所述待定位目标对应的目标位置数据。

8.一种天线阵列优化装置，其特征在于，所述装置包括：

阵列获取模块，用于获取待优化天线阵列，其中，所述待优化天线阵列为均匀平面阵列；

螺旋带确定模块，用于根据所述待优化天线阵列，确定若干目标天线，其中，若干所述目标天线均位于目标对数螺旋带；

阵元优化模块，用于根据若干所述目标天线，确定所述待优化天线阵列对应的目标天线阵列。

9.一种终端，其特征在于，所述终端包括有存储器和一个或者一个以上处理器；所述存储器存储有一个或者一个以上的程序；所述程序包含用于执行如权利要求1-7中任一所述的天线阵列优化方法的指令；所述处理器用于执行所述程序。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有多条指令，其特征在于，所述指令适用于由处理器加载并执行，以实现上述权利要求1-7中任一所述的天线阵列优化方法的步骤。