[发明专利]一种稀土掺杂硅基薄膜材料及其制备方法有效
申请号: | 202210917203.1 | 申请日: | 2022-08-01 |
公开(公告)号: | CN115274893B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 张帆 | 申请(专利权)人: | 江苏宝浦莱半导体有限公司 |
主分类号: | H01L31/0328 | 分类号: | H01L31/0328;H01L31/0336;H01L31/18;C23C14/08;C23C14/35;C23C14/48;C23C14/58 |
代理公司: | 北京云嘉湃富知识产权代理有限公司 11678 | 代理人: | 王荃 |
地址: | 223800 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 稀土 掺杂 薄膜 材料 及其 制备 方法 | ||
1.一种稀土掺杂硅基薄膜材料,其特征在于,包括如下步骤:
S1、多晶材料的制备:将ZnO与Ga2O3混合研磨后进行压片,随后进行煅烧;煅烧完成后即得多晶材料;
S2、磁控溅射处理:将步骤S1制备得到的多晶材料通过磁控溅射的方式溅射到硅基材料上,得材料a;
S3、稀土元素的掺杂:在惰性气氛中,将步骤S2所得材料a先进行第一次退火处理,得材料b,随后注入稀土离子;最后,在惰性气氛中,进行第二次退火处理,即得稀土掺杂硅基薄膜材料;
其中,稀土离子由摩尔比为1~3:1~3:1的Gd2O3、La2O3、Sc2O3均匀混合而成;
其中,步骤S1中,ZnO与Ga2O3的摩尔比为1.2~1.8:1;
其中,步骤S1中,压片压力为6~10MPa,保压时间为3~8min;煅烧温度为1100~1500℃,煅烧时间为6~24h;
其中,步骤S2中,磁控溅射的工艺条件为:真空压力为6×10-3~9×10-3Pa,氦气流量为35~45sccm,溅射压强为3~10Pa,硅基材料的温度为380~500℃,射频电源溅射功率为90~110W,溅射时间为3~6h。
2.根据权利要求1所述的一种稀土掺杂硅基薄膜材料,其特征在于,步骤S2中,所述硅基材料选自单晶硅光伏薄膜材料、多晶硅光伏薄膜材料中的一种或两种。
3.根据权利要求1所述的一种稀土掺杂硅基薄膜材料,其特征在于,步骤S2中,多晶材料的用量为0.15~0.55mol,硅基材料的规格为15mm×15mm×(70~85)nm。
4.根据权利要求1所述的一种稀土掺杂硅基薄膜材料,其特征在于,步骤S3中,第一次退火的温度为300~700℃,退火时间为12~18min;第二次退火的温度为1050~1200℃,退火时间为22~28min。
5.根据权利要求1所述的一种稀土掺杂硅基薄膜材料,其特征在于,步骤S3中,稀土离子采用离子注入法注入,真空压力为3×10-3~4×10-3Pa,注入稀土氧化物携带的能量为120~180Kev。
6.根据权利要求1所述的一种稀土掺杂硅基薄膜材料,其特征在于,步骤S3中,稀土离子的注入总剂量为1014~1018ions/cm2。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的