[发明专利]一种划痕检测方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 202210924297.5 | 申请日: | 2022-08-03 |
公开(公告)号: | CN114998337B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 汪二虎;吴海涛;梅益;颜帅;赵玲玲 | 申请(专利权)人: | 联宝(合肥)电子科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06V10/44;G06V10/762;G06V10/80;G06V10/82 |
代理公司: | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人: | 江宇 |
地址: | 230601 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 划痕 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
本公开提供了一种划痕检测方法、装置、设备及存储介质,包括:获取多张键帽图像,键帽图像对应一个具有至少一个划痕的键帽,键帽图像的标注数据包括:划痕的第一边框、置信度和类型的概率;对划痕自适应锚框,确定划痕的第二边框的尺寸;根据所有划痕的第二边框的尺寸确定多个检测框;对所有键帽图像进行数据增强,得到一张标准键帽图像;对标准键帽图像进行特征提取及融合,得到与检测框对应的特征融合图;基于检测框,通过检测模型对特征融合图进行划痕预测得到预测结果;根据所有键帽图像的标注数据及所有检测框对应的预测结果对检测模型进行优化,得到优化后的目标检测模型;通过目标检测模型对待识别键帽图像进行划痕检测,得到检测结果。
技术领域
本公开涉及图像处理领域,尤其涉及一种划痕检测方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
笔记本电脑的键盘在生产过程中会由于各种原因导致键帽表面有划痕类缺陷,这些划痕不易发现,即使在阵列灯管照射下也常常难以发现,最终带有划痕的键盘流入笔记本电脑组装工厂生产线,或流入客户手中,产生高额的更换或赔偿费。另外,即使生产线上生产的键盘没有缺陷,在进行后续笔记本电脑组装的过程中,仍然会产生各种划痕。
现有技术中,主要是通过人工对键帽表面的划痕进行检测,然而人工检测的一致性难以保证,而且这些划痕的类型多变,不易发现,导致划痕识别效果较差,速度较慢,并且造成了大量人力资源的浪费。
发明内容
本公开提供了一种划痕检测方法、装置、设备及存储介质,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
根据本公开的第一方面,提供了一种划痕检测方法,包括:获取多张键帽图像,所述键帽图像对应一个键帽,所述键帽具有至少一个划痕,所述键帽图像的标注数据包括:所述划痕的第一边框、置信度和类型的概率;对所述划痕进行自适应锚框,确定所述划痕的第二边框的尺寸;根据所有键帽图像中所有划痕的第二边框的尺寸,确定多个尺寸不同的检测框;对所有键帽图像进行数据增强,得到一张标准键帽图像;对所述标准键帽图像进行多次提取特征得到多张特征图,对所述特征图按得到的先后顺序进行排序,将所述特征图与其排序之后的特征图进行第一次特征融合得到第一融合图,将所述第一融合图与其排序之前的第一融合图进行第二次特征融合得到特征融合图,所述特征融合图与所述检测框一一对应;基于所述检测框,通过检测模型对相应的特征融合图进行划痕预测,得到对应的预测结果;根据所有键帽图像的标注数据及所有检测框对应的预测结果,对所述检测模型进行优化,得到优化后的目标检测模型;通过所述目标检测模型对待识别键帽图像进行划痕检测,得到检测结果。
在一可实施方式中,根据所有键帽图像中所有划痕的第二边框的尺寸,确定多个尺寸不同的检测框,包括:根据所述第二边框的尺寸对所有划痕进行聚类,得到多个分组,每个分组对应一个检测框,所述检测框的尺寸为该分组内尺寸最大的第二边框的尺寸。
在一可实施方式中,对所有键帽图像进行数据增强,得到一张标准键帽图像,包括:对所述键帽图像进行随机缩放处理,得到对应的第一增强键帽图像,所述第一增强键帽图像为所述键帽图像或经过缩放处理后的键帽图像;对所述键帽图像的颜色空间的格式进行随机转换,得到对应的第二增强键帽图像,所述第二增强键帽图像为所述键帽图像或经过转换后的键帽图像;对所述键帽图像进行随机旋转和翻转处理,得到对应的第三增强键帽图像,所述第三增强键帽图像为所述键帽图像或经过旋转和翻转处理后的键帽图像;从所有键帽图像中选取一张键帽图像,从所有第一增强键帽图像中选取一张第一增强键帽图像,从所有第二增强键帽图像中选取一张第二增强键帽图像,从所有第三增强键帽图像中选取一张第三增强键帽图像,进行拼接,得到与所述键帽图像相同尺寸的所述标准键帽图像。
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