[发明专利]电缆缓冲层的缺陷检测方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待测电缆的规格参数；其中，所述待测电缆为缓冲层外侧未设置金属护套的电缆；所述规格参数包括缓冲带绕包搭盖率、缓冲带绕包节距、缓冲带搭盖数量和缓冲带宽度；

将所述待测电缆的绝缘屏蔽层的一端作为接地端接地，在所述待测电缆的缓冲层的与所述接地端同侧的一端施加电源，并分别测量所述电源的出口电流、所述绝缘屏蔽层的与所述接地端异侧的一端的第一对地电压和所述缓冲层的与所述接地端异侧的一端的第二对地电压；

获取所述绝缘屏蔽层在绕包一圈缓冲带所对应长度的第一电阻，以及在所述接地端至所述缓冲层的施加电源的一端所对应长度的第二电阻；

根据所述第一电阻、所述第二电阻、所述出口电流、所述第一对地电压和所述第二对地电压，对预先建立的缓冲层与绝缘屏蔽层之间的等效电阻电路模型的节点电压方程和出口电流方程进行求解，得到所述待测电缆的缓冲层电阻；其中，所述等效电阻电路模型是基于节点分析法并根据所述缓冲带绕包搭盖率和所述缓冲带搭盖数量对缓冲层与绝缘屏蔽层之间的电阻分布进行分析建立的；

根据所述待测电缆的缓冲层电阻和所述规格参数，计算所述待测电缆的缓冲层电阻率；

将所述待测电缆的缓冲层电阻率与预设电阻率阈值进行比较，得到所述待测电缆的缓冲层缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述规格参数还包括绝缘线芯半径、绝缘屏蔽层平均厚度、绝缘屏蔽层电阻率和电缆总长度；

则所述获取所述绝缘屏蔽层在绕包一圈缓冲带所对应长度的第一电阻，以及在所述接地端至所述缓冲层的施加电源的一端所对应长度的第二电阻，具体包括：

根据所述缓冲带绕包搭盖率、所述缓冲带绕包节距、所述绝缘线芯半径、所述绝缘屏蔽层平均厚度和所述绝缘屏蔽层电阻率，计算所述第一电阻；

测量所述接地端与所述缓冲层的施加电源的一端之间的距离；

根据所述距离、所述绝缘线芯半径、所述绝缘屏蔽层平均厚度和所述绝缘屏蔽层电阻率，计算所述第二电阻。

3.如权利要求2所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一电阻的计算公式具体为：

；

其中，为所述第一电阻；为所述绝缘屏蔽层电阻率；为所述缓冲带绕包节距；为所述绝缘线芯半径；为所述绝缘屏蔽层平均厚度；为所述缓冲带绕包搭盖率；

所述第二电阻的计算公式具体为：

；

其中，为所述第二电阻；为所述绝缘屏蔽层电阻率；为所述距离；为所述绝缘线芯半径；为所述绝缘屏蔽层平均厚度。

4.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述节点电压方程为：

；

其中，为所述等效电阻电路模型的关联矩阵；为所述等效电阻电路模型的支路导纳矩阵；为所述关联矩阵的转置矩阵；为所述等效电阻电路模型的节点电压向量；为所述等效电阻电路模型的注入电流向量；n为缓冲带搭盖数量。

5.如权利要求1或4所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述待测电缆的缓冲层电阻包括缓冲层外侧表面电阻和所述缓冲层的缓冲带径向电阻；

所述出口电流方程为：

；

其中，为所述等效电阻电路模型中的第三节点的电压；为所述缓冲层的缓冲带绕包搭盖率；为所述缓冲层外侧表面电阻；为所述缓冲带径向电阻；为所述等效电阻电路模型中的第四节点的电压；为所述出口电流；所述第三节点对应于所述缓冲层的与所述接地端同侧的一端的外侧表面位置；所述第四节点对应于所述缓冲层的最接近与所述接地端同侧的一端的绕包覆盖部分的内侧表面位置。