[发明专利]一种精准度高的残影测试方法

权利要求书

1.一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，包括：

步骤A、选择被测试的显示屏模组，所述显示屏模组具有黑白格画面以及纯灰色画面，显示屏模组具有N个主区域，每个主区域具有两个子区域，在黑白格画面下，一个子区域显示黑格，另一个子区域显示白格，且N个主区域之间的黑格和白格为相互交错分布；

步骤B、先切到纯灰色画面，分别测试N个主区域中每个子区域的色坐标(x，y)，然后点亮黑白格画面；

步骤C、点亮黑白格画面一小时后，切到纯灰色画面，再次分别测试N个主区域中每个子区域的色坐标(x，y)；

步骤D、黑格残影程度由△x黑和△y黑量化衡量，白格残影程度由△x白和△y白量化衡量；

△x黑＝所有黑格的△x之和/N；

△y黑＝所有黑格的△y之和/N；

△x白＝所有白格的△x之和/N；

△y白＝所有白格的△y之和/N；

其中，△x为子区域点亮黑白格画面前与点亮黑白格画面后的x差值，△y为子区域点亮黑白格画面前与点亮黑白格画面后的y差值。

2.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述纯灰色画面的灰色度为128。

3.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述步骤B中色坐标采用CIE1993色坐标系。

4.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述步骤B中色坐标测量仪器为光学仪器CS2000。

5.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，N具体为8，即主区域数量为8，子区域数量为16，16个子区域按四行四列排布；

△x黑＝(△x1+△x3+△x6+△x8+△x9+△x11+△x14+△x16)/8；

△y黑＝(△y1+△y3+△y6+△y8+△y9+△y11+△y14+△y16)/8；

△x白＝(△x2+△x4+△x5+△x7+△x10+△x12+△x13+△x15)/8；

△y白＝(△y2+△y4+△y5+△y7+△y10+△y12+△y13+△y15)/8。

6.根据权利要求5所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，△x1为第一个子区域点亮黑白格画面前与点亮黑白格画面后的x差值，即△x1＝x1点亮黑白格画面前-x1点亮黑白格画面后；

△y1为第一个子区域点亮黑白格画面前与点亮黑白格画面后的y差值，即△y1＝y1点亮黑白格画面前-y1点亮黑白格画面后；

△x1和△y1衡量的是第一个子区域点亮了黑白格一小时后，导致的色度x和y的偏移量，即黑格和白格残留影响的量化数据。

7.根据权利要求6所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，在步骤B前先进行测试对照，具体步骤包括：

先把显示屏模组点亮显示黑白格画面，持续点亮一小时后，再切换为纯灰色画面，用人眼判断上个黑白格画面在纯灰画面中残留的程度，通过多人判断同一显示屏模组的残影程度，然后选择相同值。

8.根据权利要求7所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，使用步骤B、步骤C以及步骤D所提供的步骤对多人检测后的显示屏模组进行残影测试，判断是否存在偏差，若存在偏差则对步骤B中使用的光学仪器进行校准，若无偏差则继续后续显示屏模组的测试。

9.根据权利要求8所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述步骤B和步骤C中通过点屏装置对显示屏模组进行点亮，通过亮度检测设备对点屏装置每次点亮后的亮度进行检测。

10.根据权利要求9所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述步骤B和步骤C中所用的点屏装置为同一个。