[发明专利]一种综测仪采样率低于信号带宽的测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种综测仪采样率低于信号带宽的测试系统，其特征在于：包括功分器、综测仪，其中，所述综测仪包括两路以上结构相同的信号处理模块、一个分析模块，所述功分器的输入端接待测设备，输出端分别与多路信号处理模块相连，所述分析模块设置在多路信号处理模块输出端，用于将多路信号处理模块处理的信号合并处理，并输出，每路信号处理模块包括射频模块和与射频模块输出端相连的基带模块，所述综测仪接收功分器输出的低于综测仪采样率的两路以上信号，每路信号分别送入对应的信号处理模块处理。

2.根据权利要求1所述的综测仪采样率低于信号带宽的测试系统，其特征在于：所述信号带宽为160M，所述信号处理模块为两路，每路采集80M带宽信号。

3.基于权利要求1或2所述的综测仪采样率低于信号带宽的测试系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1：搭建测试环境，功分器的入口与待测设备通过射频线相连，不同的出口分别与对应的综测仪的信号处理模块端口相连；

步骤S2：射频模块处理：将模拟信号转换为数字信号完成接收；

步骤S3：基带模块处理：还原和解析信号信息；

步骤S4：分析模块处理：将多个基带处理模块信息进行合并，拼接成完整带宽的信号，并进行性能分析。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于：步骤S1中，所述功分器为一分二功分器，所述信号处理模块为两路，当待测设备发出的信号为160M信号时，其中心频点为5250MHz，则第一射频模块工作在频点5210MHz，第二射频模块工作在频点5290MHz。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于：步骤S2中，射频模块的处理方法包括如下子步骤：

S201：带通滤波：滤除非信号频段的数据；

S202：功率放大；

S203：射频信号转基带信号：将高频信号搬移到基带信号；

S204：低通滤波器滤除负频率，滤除为单边带信号；

S205：自动增益控制AGC量化；

S206：ADC采样：将基带信号的I、Q两路信号电信号采样，然后组合成基带信号输出给基带模块。

6.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于：步骤S3中，基带模块的处理方法包括如下子步骤：

S301：通过数字滤波器，将本路信号中采集的另外一路的信号滤除；

S302：根据参考电平，计算功率；

S303：根据获取的功率计算频谱；

S304：信号预处理分析、信道估计与均衡，获取均衡后的数据。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于：步骤S302中，滤波后的基带信号表示为I，Q路复信号y_seg1(t)＝y_seg1，I(t)+j*y_seg1，Q(t)，t是采样点序号，j为虚数单位，将数据转化为毫伏单位的电压值，然后计算功率，在射频模块是50欧姆的特征抗阻，那么t时刻点功率计算公式为：

p_seg1(t)＝((y_seg1，I(t))²+(y_seg1，q(t))²)/5000

根据p_seg1(t)的功率变化，找到数据帧的起始点t_seg1，start和结束点t_seg1，end，y_seg1(t)信号的功率为：

L＝t_seg1，end-t_seg1，start。