[发明专利]校准调度方法及相关装置

说明书

本申请实施例公开了一种校准调度方法及相关装置，方法包括：通过显示至少一个校准槽的状态，并根据其占有状态选择未锁定状态的校准槽作为目标校准槽，并更新目标校准槽为锁定状态；若检测到DUT中存在目标DUT接入目标校准槽，将目标校准槽的校准请求加入校准请求队列中；遍历校准请求队列，得到目标校准请求，根据目标校准请求对目标DUT进行校准操作并生成校准报告并发送给用户；更新目标校准槽的锁定状态为未锁定状态。如此，可以通过将校准槽的状态信息可视化给用户，实现资源的合理占用和调度；通过将校准请求加入校准请求队列进行校准任务的调度和管理，支持预设校准计划，实现了提高校准操作效率，降低人力资源的浪费。

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，具体涉及一种校准调度方法及相关装置。

背景技术

射频组件广泛应用在射频通信等电子设备的核心组件中，在所述电子产品的测试过程中，射频组件需要进行校准，以减少在被测设备(device under test，DUT)的测试过程中带来的测试误差。现有的校准方法中，一般采用专用的射频校准设备对DUT进行射频校准，且一台校准设备同时仅能对一个DUT进行校准。并且需要人工确认校准设备的使用状态以及校准进展，如此会造成人力资源的浪费以及校准效率低下。

因此，亟需一种校准调度方法解决上述问题。

发明内容

本申请实施例提供了一种校准调度方法及相关装置，可实现校准资源的充分利用、校准任务的合理调度，进而提高校准工作效率，降低人力资源的浪费。

第一方面，本申请实施例提供一种校准调度方法，应用于校准调度系统，所述校准调度系统包括处理器，包括：

显示至少一个校准槽的状态，其中，所述校准槽用于放置被测设备DUT，所述状态包括占有状态；

根据所述占有状态，从所述至少一个校准槽中选择所述占有状态为未锁定状态的目标校准槽；

更新所述目标校准槽的所述未锁定状态为锁定状态；

若检测到所述DUT中存在目标DUT接入所述目标校准槽，将所述目标校准槽的校准请求加入校准请求队列中；

遍历所述校准请求队列，得到目标校准请求，根据所述目标校准请求对所述目标DUT执行校准操作并生成校准报告，其中，所述目标校准请求包括所述校准请求；

向用户发送所述校准报告，并更新所述目标校准槽的所述锁定状态为所述未锁定状态。

第二方面，本申请实施例提供一种校准调度装置，所述装置包括显示单元、选择单元、更新单元、检测单元、遍历单元和发送单元，其中，

所述显示单元，用于显示至少一个校准槽的状态，其中，所述校准槽用于放置被测设备DUT，所述状态包括占有状态；

所述选择单元，用于根据所述占有状态，从所述至少一个校准槽中选择所述占有状态为未锁定状态的目标校准槽；

所述更新单元，用于更新所述目标校准槽的所述未锁定状态为锁定状态；

所述检测单元，用于若检测到所述DUT中存在目标DUT接入所述目标校准槽，将所述目标校准槽的校准请求加入校准请求队列中；

所述遍历单元，用于遍历所述校准请求队列，得到目标校准请求，根据所述目标校准请求对所述目标DUT执行校准操作并生成校准报告，其中，所述目标校准请求包括所述校准请求；

所述发送单元，用于向用户发送所述校准报告，并更新所述目标校准槽的所述锁定状态为所述未锁定状态。

第三方面，本申请实施例提供了一种校准调度系统，所述校准系统包括至少一个校准槽、处理器、程控衰减器和至少一个校准设备；其中，