[发明专利]一种晶体管型光电探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210969896.9 申请日: 2022-08-12
公开(公告)号: CN115425108A 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 林乾乾;杨玉洁 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: H01L31/113 分类号: H01L31/113;H01L31/18;H01L51/42;H01L51/48
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 马丽娜
地址: 430072*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶体管 光电 探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种晶体管型光电探测器,其特征在于,包括依次层叠设置的栅电极(1)、栅绝缘层(2)、传输沟道层(3)、电子传输层(4)、光吸收层(5)和源漏电极(6);

所述传输沟道层(3)包括锡锌氧化物;

所述光吸收层(5)为银锑硫薄膜。

2.如权利要求1所述的晶体管型光电探测器,其特征在于,所述银锑硫薄膜由三元硫属化合物构成,所述三元硫属化合物为AgxSbS2,其中,0.1≤x≤1。

3.如权利要求1所述的晶体管型光电探测器,其特征在于,所述栅绝缘层(2)包括SiO2薄膜层、Ta2O5薄膜层或者Al2O3薄膜层中的至少一种。

4.如权利要求1所述的晶体管型光电探测器,其特征在于,所述电子传输层(4)的材质包括C60、C70或者CdS中的一种。

5.如权利要求1所述的晶体管型光电探测器,其特征在于,所述源漏电极(6)采用银电极、铜电极或者铝电极。

6.如权利要求1所述的晶体管型光电探测器,其特征在于,所述栅绝缘层(2)的厚度为50~300nm;

和/或所述传输沟道层(3)的厚度为5~100nm;

和/或所述电子传输层(4)的厚度为5~30nm;

和/或所述光吸收层(5)的厚度为小于250nm;

和/或所述源漏电极(6)的厚度为50~200nm。

7.如权利要求1~6任意一项所述的晶体管型光电探测器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

在栅电极(1)上沉积栅绝缘层(2);

将包括锌源和锡源的锡锌溶液旋涂至栅绝缘层表面,得到传输沟道层(3);

在传输沟道层(3)表面沉积电子传输层(4);

将银源、锑源和硫源加入溶剂中得到银锑硫前驱体溶液;

将所述银锑硫前驱体溶液旋涂至电子传输层(4)表面,在150~400℃温度中退火,制得银锑硫薄膜;

在所述银锑硫薄膜上沉积源漏电极(6),得到所述晶体管型光电探测器。

8.如权利要求7所述的晶体管型光电探测器的制备方法,其特征在于,所述银锑硫前驱体溶液中银源的浓度为0.1~3mol/L、锑源的浓度为0.5~3.0mol/L、硫源的浓度为1.5~3.5mol/L。

9.如权利要求7所述的晶体管型光电探测器的制备方法,其特征在于,所述银源包括硝酸银;

和/或所述锑源包括醋酸锑;

和/或所述硫源包括硫脲;

和/或所述溶剂包括二甲基亚砜。

10.如权利要求7所述的晶体管型光电探测器的的制备方法,其特征在于,所述锡锌溶液中锌源的浓度为0.1~0.2mol/L、锡源的浓度为0.05~0.15mol/L。

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