[发明专利]一种iView-TK触摸调试系统

说明书

本发明公开了一种iView‑TK触摸调试系统；包括触摸MCU芯片，所述触摸MCU芯片上电性连接有数据处理模块，所述数据处理模块上电性连接有ilink调试器，所述ilink调试器上电性连接有上位机，所述触摸MCU芯片用于实现对系统进行控制调节，并且通过IIC协议与所述ilink调试器通讯连接，所述ilink调试器用于实现对数据信息进行传输，所述ilink调试器用于解决串口通信常出现的丢包、需要自定义数据协议、占用串口外设的缺点，所述ilink调试器通过通过USB接口与所述上位机电性连接，所述上位机用于实现对所述触摸MCU芯片进行控制调节；本发明使用ilink调试器作为中介，使得上位机与触摸MCU芯片的通信分为前端后端两个部分，前后端的分开使上位机与触摸MCU芯片的交互更加灵活。

技术领域

本发明属于触摸调试技术领域，具体涉及一种iView-TK触摸调试系统。

背景技术

为适应小家电领域内芯片集成化的趋势，多家MCU厂商推出触摸MCU，将触摸模块集成进MCU内部，使小家电元器件进一步集成，为适应这种触摸MCU的调试开发，特开发此触摸调试软件，方便开发人员进行触摸模块的开发。现有技术需要开发者配合上位机协议开发特殊固件，使得MCU可以通过串口与上位机进行通信，上位机与触摸MCU之间协定通信协议，使上位机可以解析数据结构，将MCU上传的数据进行解析与显示，然而市面上各种的触摸调试仍存在各种各样的问题。

如授权公告号为CN109857610A所公开的一种通过工业触摸屏改进的生产调试工艺，其虽然通过工业触摸屏改进的生产调试工艺，可实现通过触摸屏显示产品内部运行信息和内部参数，调试生产非常方便，更改内部参数也非常容易，同时通过工业触摸屏显示修改产品内部信息和内部参数，工装成本低，操作简单方便，对生产人员技术水平要求较低，简化了调试流程，提高了生产效率，但是现有的设备使用串口进行通信，通信不稳定，容易丢包且数据容易出错。使用串口通信，需要开发者需要适配上位机的协议，上位机协议更改时，需要开发者一并更改。需要占用MCU串口，占用MCU的外设资源，为此我们提出一种iView-TK触摸调试系统。

发明内容

本发明的目的在于提供一种iView-TK触摸调试系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种iView-TK触摸调试系统，包括触摸MCU芯片，所述触摸MCU芯片上电性连接有数据处理模块，所述数据处理模块上电性连接有ilink调试器，所述ilink调试器上电性连接有上位机，所述触摸MCU芯片用于实现对系统进行控制调节，并且通过IIC协议与所述ilink调试器通讯连接，所述ilink调试器用于实现对数据信息进行传输，所述ilink调试器用于解决串口通信常出现的丢包、需要自定义数据协议、占用串口外设的缺点，所述ilink调试器通过通过USB接口与所述上位机电性连接，所述上位机用于实现对所述触摸MCU芯片进行控制调节；

所述ilink调试器中包括有电源部分和主控部分，所述主控部分采用的是C8051F340芯片，所述电源部分包括有供电模块、调压模块、主板电源模块和芯片电源模块，所述供电模块上电性连接有所述调压模块，所述调压模块中包括有电平转换电路，所述电平转换电路用于实现将3.3V与5V的电平进行转换，所述电平转换电路采用的是74LVC1T45芯片，所述电平转换电路设有若干个，所述主板电源模块用于实现对电路板进行供电，所述芯片电源模块用于实现对所述主控部分和所述触摸MCU芯片进行供电运行，所述主板电源模块采用的是USB插接口；

所述ilink调试器的软件部分则主要分为所述上位机的前端命令解析流程与后端的所述触摸MCU芯片数据包解析流程；