[发明专利]针对处理器板级调试的开发系统在审

专利信息
申请号: 202210972500.6 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN115357439A 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 孙浩;余红斌 申请(专利权)人: 展讯通信(上海)有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 代理人: 赵永刚
地址: 201203 上海市浦东新区浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 针对 处理器 调试 开发 系统
【权利要求书】:

1.一种针对处理器板级调试的开发系统,其特征在于,处理器的处理器核包括JTAG控制模块以及IFU、DPU、LSU和MMU组成模块,其中,

所述JTAG控制模块包括测试访问端口TAP和JTAG链,通过JTAG链,将处理器核内重要的信号读出来;

所述JTAG控制模块,基于标准的JTAG协议,内部实现了状态机、DR寄存器及IR寄存器,DR寄存器用于保存所要导出的信号,IR寄存器用于选择导出哪些信号;

所述IFU、DPU、LSU和MMU组成模块,分别将其内部重要信号分成以32-bit宽为单位的多组,通过复用器输出给JTAG链;

处理器核内的JTAG接口与处理器核外的SoC上的JTAG相连,最终将调试信号导出到芯片外。

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