[发明专利]一种用于测试主板的刀片探针夹具

说明书

本发明公开了一种用于测试主板的刀片探针夹具，包括针模块本体，针模块本体包括第一模芯、第二模芯和第三模芯，第一模芯的一侧设有凹槽，凹槽内设有方形开口，第二模芯上设有多组第一针孔，第一针孔之间设有第一方形槽，第一方形槽与第一针孔之间相互贯通，第一针孔和第一方形槽贯穿第二模芯，第三模芯为T形状，有益效果：使得打孔难度低，便于加工，此种加工方式避免零件切块太多，进行需要钻孔方式，大大降低了加工步骤和加工难度，并解决了切块太多的问题，使得成本更加低廉，此种加工方式适合大部分小、中、大零件的生产。

技术领域

本发明涉及探针夹具领域，具体为一种用于测试主板的刀片探针夹具。

背景技术

集成电路(IC)是有一系列的光刻、腐蚀、掺杂等步骤制造而成，而在实际的集成电路(IC)设计、生产过程中不可避免的会产生各种缺陷，在产品交付客户之前就需要进行电性功能测试，在集成电路检测设备上就需要探针夹具来充当芯片与测试机信号传递的“桥梁”，在对主板进行性能测试时，通过使用刀片探针(Blade probe)安装固定在针模块上，一端连接TPCB，另一端连接待测试主板，通过刀片探针(Blade probe)自身的弹性缓冲结构和前端尖端针刺，使得电信号更加稳定在TPCB和待测试主板之间传输。

目前针模块大多数为一体式结构，针模块长度长，刀具打孔需要十分精确，难度较大，在打孔的时容易将刀头损坏，加工成本较大，而且不便于量产。

发明内容

(一)解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：目前针模块大多数为一体式结构，针模块长度长，刀具打孔需要十分精确，难度较大，在打孔的时容易将刀头损坏，加工成本较大，而且不便于量产。

(二)技术方案

为解决上述问题，本发明提供如下技术方案：

1.一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于：包括针模块本体，所述针模块本体包括第一模芯、第二模芯和第三模芯，所述第一模芯的一侧设有凹槽，所述凹槽内设有方形开口，所述第二模芯上设有多组第一针孔，所述第一针孔之间设有第一方形槽，所述第一方形槽与所述第一针孔之间相互贯通，所述第一针孔和所述第一方形槽贯穿所述第二模芯，所述第三模芯为T形状，所述第三模芯上设有第二针孔和第三针孔，所述第二针孔与第三针孔之间设有第二方形槽，所述第二针孔贯穿所述第三模芯，所述第二方形槽的深度与所述第三针孔的深度相同。

进一步的，，所述第一模芯、所述第二模芯和第三模芯的两侧分别设有固定槽，所述固定槽之间上下贯通，且所述固定槽在同一中心轴上。

进一步的，所述第一方形槽与所述第二方形槽之间相互贯通，所述第一方形槽与所述第二方形槽的槽宽在0.14mm-0.16mm之间。

进一步的，所述第一针孔、所述第二针孔和第三针孔的孔径相同，所述第二针孔的深度的小于所述第一针孔的深度，所述第一针孔于所述第三针孔的深度。

进一步的，所述凹槽覆盖在所述第一针孔上部。。

进一步的，所述第一模芯、所述第二模芯和所述第三模芯之间为活动连接。

有益效果

本发明有益效果为：使得打孔难度低，便于加工，此种加工方式避免零件切块太多，进行需要钻孔方式，大大降低了加工步骤和加工难度，并解决了切块太多的问题，使得成本更加低廉，此种加工方式适合大部分小、中、大零件的生产。

附图说明

图1是本发明的立体图；

图2是本发明的爆炸图；

图3是本发明的第三模芯剖视图；

图4是本发明的第一模芯立体图；

图5是本发明的第三模芯俯视图；