[发明专利]星载抗辐照自适应蓝图部署方法、系统、设备及介质

说明书

本发明公开了一种星载抗辐照自适应蓝图部署方法、系统、设备及介质，属于嵌入式数字信号处理领域，包括步骤：针对辐照敏感的存储类器件，一方面通过对存储器当前状态的判断和存储位置的选择，规避因空间辐照引起的功能程序错误；另一方面，通过程序更新，刷新恢复存储器中异常的功能程序，形成高可靠、高可用、可修复的星载自适应抗辐照平台。利用本发明的技术方案，可以形成高可靠、高可用、可修复的星载自适应抗辐照平台。

技术领域

本发明涉及嵌入式数字信号处理领域，更为具体的，涉及一种星载抗辐照自适应蓝图部署方法、系统、设备及介质。

背景技术

辐照是造成航天器电子设备异常或故障的重要原因。针对星载电子设备进行抗辐照设计，是保障电子设备高可靠、长寿命运行的关键。

根据造成损伤的粒子多少，可将辐照效应分为两大类：

a)单个粒子造成单粒子事件(SEE)，具体包含单粒子翻转(SEU)、单粒子闩锁(SEL)、单粒子瞬态扰动(SET)、单粒子功能中断(SEFI)、单粒子烧毁(SEB)等；

b)累积效应：如电离总剂量(TID)、位移损伤(DD)等。

由于星载电子设备可能遭遇空间辐照效应，对于载荷单元正常在轨工作和安全具有严重威胁，因此在星载电子设备系统设计过程中，应进行充分有效的抗辐照防护设计，确保在轨器件不因辐照环境造成载荷单元在轨故障或者失效，提高星载电子设备对轨道空间辐照环境的适应能力和生存能力。

传统的星载电子设备主要利用元器件的抗辐射能力进行保障，以低轨卫星平台为例，往往要求元器件抗SEU的LET阈值大于15MeV·cm2/mg，抗SEL的LET阈值大于75MeV·cm2/mg、以及耐受电离总剂量的能力不低于10krad(Si)等，这不仅大大缩小了元器件可选用的范围，同时由于抗辐照元器件往往性能更低、价格更高，极大的拉低了星载电子设备的性价比，并限制了星载电子设备的快速发展。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种星载抗辐照自适应蓝图部署方法、系统、设备及介质，利用本发明的技术方案可以形成高可靠、高可用、可修复的星载自适应抗辐照平台。

本发明的目的是通过以下方案实现的：

一种星载抗辐照自适应蓝图部署方法，包括以下步骤：

S1，系统完成初始化时，并未加载功能程序，等待接收功能蓝图部署指令；

S2，接收到功能蓝图部署指令后，根据部署蓝图描述的功能程序与加载芯片位置的对应关系，发起加载相应的功能程序；

S3，判断本地是否存在可加载功能程序，如果存在可加载功能程序，则进行步骤S4-1，否则，进行步骤S4-2；

S4-1，通过读取本地存储器将功能程序加载到待执行的处理芯片中，执行相应的功能任务；

S4-2，通过远程读取存储器的方式将功能程序加载到待执行的处理芯片中，执行相应的功能任务；

S5-1，综合判断通过本地加载的功能程序是否正常，如果程序加载正常，则进行步骤S6，否则，进行步骤S7-1；

S5-2，综合判断通过远程加载的功能程序是否正常，如果程序加载正常，则进行步骤S6，否则，进行步骤S7-2；

S6，完成程序加载并返回部署结果，功能蓝图部署任务结束；

S7-1，根据本地加载异常对应的本地存储器位置，更新本地功能程序，将正确的功能程序重新烧写到该本地存储器中替换原功能程序；

S7-2，根据远程加载异常对应的功能程序存储位置，更新存储中心的功能程序，将正确的功能程序重新烧写到存储中心中替换原功能程序。