[发明专利]一种基于曲线拟合的自动检焦方法在审
申请号: | 202211012611.9 | 申请日: | 2022-08-23 |
公开(公告)号: | CN115421274A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 夏诗烨;王志文;于学刚;罗一涵;陈科;刘雅卿;马浩统 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G02B7/28 | 分类号: | G02B7/28 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 邓治平 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 曲线拟合 自动 方法 | ||
本发明提供一种基于曲线拟合的自动检焦方法,针对反射式光学系统离焦,导致成像清晰度下降而影响后续处理的问题,通过采集实际像方焦面附近的光斑图像,提取光斑的特征信息,进行曲线拟合,再依据拟合曲线计算出次镜的最佳位置,其所对应的像方焦面作为光学系统的实际像方焦面。其有益效果在于:不仅可以突破图像分辨率的限制找到实际像方焦面,而且方法操作简单,适应性强,不需要借助其它的设备,即能实现对光学系统实际像方焦面位置的检测工作。
技术领域
本发明属于基于图像处理的自动调焦领域,具体涉及一种基于曲线拟合的自动检焦方法。
背景技术
当目标在无穷远时,由于光学系统的口径是有限的,在这部分区域内,无穷远轴上物点视为发出平行光线进入光学系统。根据理想光学系统的性质,这束平行光与光轴交于像方焦点,过焦点作光轴的垂面,即为像方焦面。然而在实际应用中,成像系统的工作环境往往复杂多变,在成像过程中,受温度、大气压力、成像距离等因素影响,光学系统会发生离焦,导致成像清晰度下降,不便于后续图像识别、配准和定位等操作。因此,需要使用检焦技术检测系统的实际像方焦面位置,并将探测器成像面移动至实际像方焦面。
目前经常使用的检焦方法有程序控制法、光电自准直法和图像处理法。程序控制法是一种开环控制方法,检焦精度和场景适应性较差;光电准直法的机械结构复杂度高,检焦时无法对外界景物成像,检焦实时性差;图像处理法由于分辨率的限制,在一定的范围内,无法反映出光斑的变化。因此本文提出一种基于曲线拟合的自动检焦方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题为:针对反射式光学系统离焦,导致成像清晰度下降的问题,提供一种基于曲线拟合的自动检焦方法。
本发明的采用的技术方案为:本发明一种基于曲线拟合的自动检焦方法,具体实现步骤为:
步骤1、移动次镜,确定有效次镜位置区间;
步骤2、在有效次镜位置区间内,以固定距离L移动N次次镜位置,在每个次镜位置采集M张图像;
步骤3、提取图像中光斑的特征信息;
步骤4、利用多个次镜位置信息及其对应的光斑特征信息进行曲线拟合;
步骤5、计算各次镜位置的拟合残差,并判断拟合残差是否大于固定值δ:在大于固定值δ的次镜位置处,重新采集图像,重复步骤3~4;若所有残差均小于δ,则转入步骤6;
步骤6、根据拟合曲线,确定最佳次镜位置。
进一步地,所述步骤1中,有效次镜位置区间的确定方法为:通过实时提取光斑面积,确定最小光斑图像所对应的次镜位置区间然后向前和向后移动次镜,确定光斑发散不明显图像的极限位置和则有效次镜位置区间为:
进一步地,所述步骤4中曲线拟合的公式为:
areai=αtan2(β|xi-x0|)+γ
式中,x0为所求次镜位置,xi是第i个次镜位置,areai是次镜位于xi时所对应的图像光斑面积,α、β、γ均为待定系数。
本发明与现有技术相比的有益效果在于:不仅可以突破图像分辨率的限制找到实际像方焦面,而且方法操作简单,适应性强,不需要借助其它的设备,即能实现对光学系统实际像方焦面位置的检测工作。
附图说明
图1是实施例中采集图像的示例;
图2是实施例中从采集图像中提取的光斑面积示意图;
图3是实施例中初次曲线拟合的结果图;
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