[发明专利]一种测量光学薄膜内外雾度的方法

说明书

一种测量光学薄膜内外雾度的方法，包括步骤：步骤01，通过雾影仪测量出待测光学薄膜的总体雾度Hsubgt;0/subgt;；步骤02，选取辅助液；步骤03，选取四片对比光学薄膜；步骤04，通过样品制备架制备出多块尺寸相等的第一光学薄膜样品；步骤05，通过雾影仪测量出第一光学薄膜样品的雾度Hsubgt;01/subgt;，或以标准片的形式对第一光学薄膜样品进行校准；步骤06，通过样品制备架制备出多块尺寸相等的第二光学薄膜样品；步骤07，通过雾影仪测量出第二光学薄膜样品的雾度Hsubgt;i/subgt;；步骤08，计算得出Hsubgt;s/subgt;待测光学薄膜的表面雾度。方便进行雾度检测样品的制备，并且能够确保外表面雾度检测结果的准确性。

技术领域

本发明涉及光学薄膜检测技术领域，尤其涉及一种测量光学薄膜内外雾度的方法。

背景技术

衡量光学薄膜透光性的两个重要参数是透光率和雾度。其中，透光率是指透过试样的光通量射到试样上的光通量之比，用百分数表示。而雾度是指透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比。其中现有的当在进行光学薄膜表面雾度的检测时，并不能确保光源的正入射及0°入射，因此造成了雾度测量值误差较大。并且现有的采用的辅助液大多从确定的几种辅助液选取，而对某些辅助液来说由于其折射率与光学薄膜之间的折射率相差较大，因此造成光学薄膜内外雾度测量值偏差较大。同时现有的光学薄膜雾度检测样品在进行制样时，是在一块较为洁净的平板上进行的，而一般地为了提高检测值的准确性，常常需要制备多块检测样品，那么在制备时先进行母样品的制备，当样品制备后操作人员通过剪刀将样品从母样品上剪下来，而后进行雾度检测，而这种操作方式在进行母样品的裁剪时，由于母样品没有被定位，因此不能确保裁剪后样品的尺寸大小，当样品的尺寸过小时，不方便进行样品的固定，甚至在检测过程中容易出现漏光的现象，进而影响检测结果。并且在裁剪的过程中还容易造成两层光学薄膜发生相对偏离，而这种情况也容易对检测结果造成影响。现有的为了确保裁切时的裁切效果，常通过刻度尺和工具刀进行裁切，而这种裁切方式在裁切后样品是放置在工作台面上的，因此不方便操作人员将样品拿起，并且在拿起的过程中，容易使光学薄膜之间分层，甚至在光学薄膜之间进入空气，从而对雾度的测量准确性造成一定的影响。

发明内容

本发明提供了一种测量光学薄膜内外雾度的方法，以解决上述现有技术的不足，方便进行雾度检测样品的制备，并且能够确保外表面雾度检测结果的准确性，具有较强的实用性。

为了实现本发明的目的，拟采用以下技术：

一种测量光学薄膜内外雾度的方法，包括步骤：

步骤01，通过NDH2000雾影仪测量出待测光学薄膜的总体雾度H₀；

步骤02，选取具有与待测光学薄膜相近折射率的辅助液；

步骤03，选取四片等大且材质与待测光学薄膜一致的对比光学薄膜；

步骤04，通过样品制备架制备出多块尺寸相等的第一光学薄膜样品，且第一光学薄膜样品由两块对比光学薄膜堆叠而成，且两块对比光学薄膜之间填充有步骤02中所得的辅助液；

步骤05，通过NDH2000雾影仪测量出第一光学薄膜样品的雾度H₀₁，或以标准片的形式对第一光学薄膜样品进行校准；

步骤06，通过样品制备架制备出多块尺寸相等的第二光学薄膜样品，且第二光学薄膜样品是由一块待测光学薄膜及贴合于待测光学薄膜两侧的两块对比光学薄膜堆叠而成，且待测光学薄膜与对比光学薄膜之间填充有步骤02中所得的辅助液；

步骤07，通过NDH2000雾影仪测量出第二光学薄膜样品的雾度H_i，测量时，选取不同的第二光学薄膜样品并至少测量5次，并对测量结果求取平均值；