[发明专利]基于有效存取计数的媒体管理在审
申请号: | 202211020546.4 | 申请日: | 2022-08-24 |
公开(公告)号: | CN115729453A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
发明(设计)人: | V·雷纳;F·卢波 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 彭晓文 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 有效 存取 计数 媒体 管理 | ||
1.一种用于基于有效存取计数的媒体管理的方法(450),其包括:
确定非易失性存储器装置(130)中的非易失性存储器单元的块的相应运行状况特性值;
基于所述相应运行状况特性值和所述非易失性存储器单元的所述块的至少一个有效运行状况因子而确定非易失性存储器单元的所述块的有效相应运行状况特性值;以及
基于所述有效相应运行状况特性值,执行涉及非易失性存储器单元的所述块中的非易失性存储器单元的具有符合运行状况标准的有效相应运行状况特性值的块的媒体管理操作。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述至少一个有效运行状况因子进一步包括指示非易失性存储器单元的所述块是否已经历特定制造工艺的制造工艺因子。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述制造工艺因子指示非易失性存储器单元的所述块是否已在执行与非易失性存储器单元的所述块相关联的存储器操作之后经历所述特定制造工艺。
4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括响应于确定非易失性存储器单元的所述块已在执行与非易失性存储器单元的所述块相关联的存储器操作之后经历所述特定制造工艺,确定相对于非易失性存储器单元的所述块的相应运行状况特性值增加的有效相应运行状况特性值。
5.根据权利要求3所述的方法,其中所述特定制造工艺进一步包括焊接工艺,并且其中所述焊接工艺进一步包括红外(IR)回流焊接工艺。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述运行状况特性值是编程擦除循环PEC计数。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述至少一个有效运行状况因子进一步包括指示非易失性存储器单元的所述块的物理位置的拓扑因子。
8.根据权利要求7所述的方法,其中所述拓扑因子指示从非易失性存储器单元的块到包含非易失性存储器单元的所述块的裸片的物理边缘的距离。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述有效运行状况因子进一步包括测试因子、运行时因子或这两者。
10.一种用于基于有效存取计数的媒体管理的设备,其包括:
有效存取计数的媒体管理组件(113),其被配置成:
确定非易失性存储器装置(130)中的非易失性存储器单元的多个块的相应存取计数;
确定非易失性存储器单元的所述多个块中的每个块的至少一个有效运行状况因子;
基于所述至少一个有效运行状况因子而修改所述相应存取计数以确定非易失性存储器单元的所述多个块的有效相应存取计数;并且
基于所述有效相应存取计数,执行涉及非易失性存储器单元的具有符合运行状况标准的有效相应存取计数的块的媒体管理操作。
11.根据权利要求10所述的设备,其中所述至少一个有效运行状况因子包含拓扑因子、制造工艺因子、测试因子、运行时因子,其任何组合。
12.根据权利要求10至11中任一权利要求所述的设备,其中所述存取计数对应于写入操作的总量、读取操作的总量、擦除操作的总量、编程擦除循环的总量或其任何组合。
13.根据权利要求10至11中任一权利要求所述的设备,其进一步包括在终端用户使用包含非易失性存储器单元的所述多个块的电子装置之后确定所述有效存取计数。
14.根据权利要求10所述的设备,其进一步包括在装运包含非易失性存储器单元的所述多个块的电子装置之前确定所述有效存取计数。
15.根据权利要求14所述的设备,其中所述有效存取计数媒体管理组件进一步被配置成基于修改标准修改所述相应存取计数。
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