[发明专利]内场有源干扰散射特性测量装置与测量方法

说明书

本发明内场有源干扰散射特性测量装置，包括暗室，暗室内壁上铺有吸波材料，暗室内设置有转台、信号发射天线和干扰信号发射天线，转台周围设置有多探头阵列接收天线，信号发射天线依次连接有功率放大器a、矢量网络分析仪和一体化电脑，功率放大器a与多探头阵列接收天线连接，干扰信号发射天线依次连接有功率放大器b和干扰信号发生器，转台连接有转台控制系统，转台控制系统与一体化电脑连接。本发明还公开了内场有源干扰散射特性测量方法，通过干扰信号发生器向测量目标发射正弦波干扰信号，通过多探头阵列接收天线接收多方位反射回来的电磁波信号以提取电磁散射特征模型。本发明解决了目标散射特性的测量问题和耦合效应引起的测量误差问题。

技术领域

本发明属于雷达电子干扰技术领域，具体涉及内场有源干扰散射特性测量装置，本发明还涉及内场有源干扰散射特性测量方法。

背景技术

目前，在军事战况中，掌握电磁波的主动权对了解军事战况、取得战事胜利发挥着至关重要的作用。雷达作为敌我双方电子对抗侦察防御的手段之一，其依靠电磁波经过目标反射回来的信号来获得信息，包括目标与雷达之间的距离、高度、方位角等。然而随着反侦察技术的发展，出现了许多种形式的电子干扰，包括有源干扰(雷达干扰、通信干扰等)和无源干扰(箔条干扰、角反射器干扰等)，这时雷达系统接收到的目标回波信号与干扰信号是同时存在的，为了对干扰环境中复杂军事目标的散射特性进行研究，测量实验是必不可少的研究方法之一。

目前：对有源干扰环境中目标的散射测量方法主要包括外场与内场。通常外场实验环境较为复杂，例如，外场环境中的风速、沙尘、雨雪等无法控制，这将会影响有源信号的稳定输出，而且外场实验投入成本较大，在自然环境中得到的实验结果具有一定的随机性和局限性。一般在内场实验中测量目标的双站RCS时，通常在不同的方位放置接收天线来接收信号，然后改变天线的位置获得多个方位的RCS参数，不免会费时费力且误差较大，并且如果接收天线到达某一位置时，其与发射天线产生的耦合效应会导致测量结果误差较大。

通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：

(1)在外场环境中实验时许多外界因素不可控，导致测量结果不准确，且投入成本较大、费时费力。

(2)内场实验中仅依靠改变接收天线位置来接收不同方位的回波信号。

解决上述问题及缺陷的难度为：1)有源信号的输出受自然环境因素无法控制；2)目标在多方位上的散射特征获取误差较大。

解决上述技术问题的意义为：实验在微波暗室内进行，可以降低自然因素带来的测量误差，同时，多探头阵列接收天线克服了改变天线位置的缺点，可同时对目标的多方位RCS进行测量。所以该技术为目标在有源干扰下的RCS测量以及干扰效果评估提供了有效的方法。

发明内容

本发明的目的是提供内场有源干扰散射特性测量装置，解决了有源干扰环境中目标散射特性的测量问题和因耦合效应引起的测量误差问题。

本发明的第二个目的是提供使用上述装置进行内场有源干扰散射特性测量的方法。

本发明所采用第一种技术方案为：内场有源干扰散射特性测量装置，包括暗室，暗室内壁铺有一层吸波材料，暗室内设置有转台，转台周围设置有多探头阵列接收天线，暗室内还设置有信号发射天线和干扰信号发射天线，信号发射天线与功率放大器a的输出端连接，功率放大器a的输入端连接有矢量网络分析仪和多探头阵列接收天线，矢量网络分析仪和一体化电脑连接，干扰信号发射天线与功率放大器b的输出端连接，功率放大器b的输入端连接有干扰信号发生器，转台连接有转台控制系统，转台控制系统与一体化电脑连接。

本发明所采用第二种技术方案为：内场有源干扰散射特性测量方法，使用上述的内场有源干扰散射特性测量装置，通过干扰信号发生器向测量目标发射正弦波干扰信号，通过多探头阵列接收天线接收多方位反射回来的电磁波信号以提取电磁散射特征模型。