[发明专利]显示面板和包括显示面板的显示装置在审

专利信息
申请号: 202211044102.4 申请日: 2022-08-30
公开(公告)号: CN116030741A 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 印海静 申请(专利权)人: 三星显示有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/3233
代理公司: 北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙) 11641 代理人: 李子光
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 包括 显示装置
【说明书】:

提供了显示面板和显示装置。该显示面板包括连接到扫描线和数据线的像素以及通过数据线向像素提供点亮测试电压的点亮测试电路。点亮测试电路包括:第一测试晶体管,包括接收点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及第二测试晶体管,包括连接到第一测试晶体管的第二电极的第一电极、连接到数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。

技术领域

实施例涉及显示装置。

背景技术

显示装置可以包括显示图像的显示面板和向显示面板提供信号的驱动器。显示面板可以包括发射形成图像的光的多个像素。

在制造显示装置的工艺中,可以在显示面板和驱动器彼此连接之前测试显示面板的像素的点亮状态。在显示面板和驱动器彼此连接之前的点亮测试时段中,用于测试像素的点亮状态的点亮测试电压可以施加到像素。在显示面板和驱动器彼此连接之后的图像显示时段期间,点亮测试电压可以不施加到像素。

发明内容

实施例提供了用于防止点亮测试电压在图像显示时段中施加到像素的显示面板和包括显示面板的显示装置。

根据本发明的显示面板的实施例包括连接到扫描线和数据线的像素以及通过数据线向像素提供点亮测试电压的点亮测试电路。在这样的实施例中,点亮测试电路包括:第一测试晶体管,包括接收点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及第二测试晶体管,包括连接到第一测试晶体管的第二电极的第一电极、连接到数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。

在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为N型晶体管。

在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据电压通过数据线提供到像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压。在这样的实施例中,从第一测试控制信号和第二测试控制信号中选择的至少一个可以在图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有低电压。

在实施例中,图像显示时段可以包括数据电压写入到数据线的数据写入时段和数据电压未写入到数据线的数据边沿时段。在这样的实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据边沿时段中从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。

在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在图像显示时段中每一个帧时段从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。

在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在图像显示时段中每多个帧时段从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。

在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在点亮测试电压通过数据线提供到像素的点亮测试时段中具有恒定的高电压。

在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为P型晶体管。

在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据电压通过数据线提供到像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压。在这样的实施例中,从第一测试控制信号和第二测试控制信号中选择的至少一个可以在图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有高电压。

在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在点亮测试电压通过数据线提供到像素的点亮测试时段中具有恒定的低电压。

在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为氧化物半导体晶体管和非晶硅晶体管中的一种。

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